![桌上型橢圓偏光機 FE-5000S](http://www.otsuka-tw.com/product/images/fe50s_2.jpg)
![產品特色](http://www.otsuka-tw.com/product/common/img_feature.gif)
![](http://www.otsuka-tw.com/product/common/img_mark_or.gif)
自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數據。
反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高精度的分析。
搭載有薄膜解析所需的全角度同時測量功能。
測量晶圓與金屬表麵的光學常數(n:屈折率,k:衰減係數)。
![](http://www.otsuka-tw.com/product/common/spacer.gif)
![](http://www.otsuka-tw.com/common/spacer.gif)
新手教學
![橢偏機 日本OTSUKA牌 FE-5000_其他光學儀器_光學儀器_儀器、儀表_貨源_批發一路發](http://www.marketplace.com.tw/skin/en/image/step.jpg)
![](/skin/en/image/note.jpg)
批發市場僅提供代購諮詢服務,商品內容為廠商自行維護,若有發現不實、不合適或不正確內容,再請告知我們,查實即會請廠商修改或立即下架,謝謝。
諮詢直撥專線:香港 8175-8056 大陸 0592-5638-176 台灣代購需求可諮詢 台灣批發市場 Email:[email protected]
全部目錄
自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數據。
反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高精度的分析。
搭載有薄膜解析所需的全角度同時測量功能。
測量晶圓與金屬表麵的光學常數(n:屈折率,k:衰減係數)。