目前IC使用率增長隨之不良率及反修率也越來越高，PTI818BGA測試機可以測試IC各腳之間開短路，對GND和VCC的clamp diode,對地及相關腳的電阻及電容，對IC上電，量測關鍵點的電壓等手段檢測出不良IC，並能對不良情況進行統計，以便做分析並查找對策。此方式對IC可測率達到98%以上。將是IC測試的實惠快速測試的變革，為BGA封裝不良返修測試提供行之有效測試解決方案。

詳細介紹：

產品特點：

§模塊化設計，為擴展多種功能提供瞭測試平臺。

§豐富的測試信號源及Reed Relay Switching Board,大大的保證瞭穩定性和測試覆蓋率。

§測試程序全部自動生成並ATPD（Auto Test Program Debug）。

§ Board View功能可即時顯示不良腳位，針點位置，方便檢修。

§完整豐富的測試統計資料及報表，且自動儲存，不因斷電而遺失數據。

§ PTI818 BGA測試機系統具自我診斷功能及遠端監控和遙控功能。

§支持GPIB外圍設備擴展功能。

 測試項目：

• §    封裝與晶圓錫球接點的開短路測試。
• §    IC內部的開短路測試。
• §    IC內的保護二極體測試。
• §    Pin to Pin、Pin to GND、Pin to VCC　阻抗比對測試。
• §    Pin to Pin、pin to GND、Pin to VCC　電容比對測試。
• §    ＩＣ載板上元器件值的測試 。
• §    對ＩＣ上電，測試關鍵點的電壓，來檢測內部功能。
• §    通用ＧＰＩＢ擴展來量測ＩＣ關鍵點波形，頻率等參數。

系統規格                                

測試點數:

        標準配備:320點                               

          大型主機:可以擴充至4096點                                  

測試項目:     

       最大測試步驟:300000setp                                 

測試時間:     

       開路/短路測試:每1000點約≤1Sec(Typical DUT)                     

測試范圍:

   電阻: 0.01Ω至40MΩ                                   

     電容:0.1pF至10000uF                             

     電感：1.0uH至60H                                

     二極管/三極管：0.1至9.99V                            

      Zener Diode:標準0.1V至50.0V                               

功能測試：0.00V至50V                                      

軟體系統：    "支持winxp,win2003,winvisat/多語言"

 應用領域：

一，IC品質不高的來料檢查，查出率在99.5%以上，且速度快。

二，大批量返修IC的檢測。

三，不良IC的故障原因的查找及統計，以便改進設計。

新手教學

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