商品代碼:11457430

  • IC不良故障分析測試機/BGA檢測設備
    商品代碼: 11457430
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    商品詳細說明

    目前IC使用率增長隨之不良率及反修率也越來越高,PTI818 BGA測試機可以測試IC各腳之間開短路,對GNDVCCclamp diode, 對地及相關腳的電阻及電容,對IC上電,量測關鍵點的電壓等手段檢測出不良IC,並能對不良情況進行統計,以便做分析並查找對策。此方式對IC可測率達到98%以上。將是IC測試的實惠快速測試的變革,為BGA封裝不良返修測試提供行之有效測試解決方案。

    詳細介紹:

    產品特點: 

      

    § 模塊化設計,為擴展多種功能提供瞭測試平臺

    § 豐富的測試信號源及Reed Relay Switching Board,大大的保證瞭穩定性和測試覆蓋率。

    § 測試程序全部自動生成並ATPD(Auto Test Program Debug)。

    § Board View功能可即時顯示不良腳位,針點位置,方便檢修。

    § 完整豐富的測試統計資料及報表,且自動儲存,不因斷電而遺失數據。

    § PTI818 BGA測試機系統具自我診斷功能及遠端監控和遙控功能。

    § 支持GPIB外圍設備擴展功能。

     

     

     

     測試項目: 

    § 封裝與晶圓錫球接點的開短路測試。 

    § IC內部的開短路測試。 

    § IC 內的保護二極體測試。 

    § Pin to Pin Pin to GND Pin to VCC 阻抗比對測試。 

    § Pin to Pin pin to GND Pin to VCC 電容比對測試。 

    § IC載板上元器件值的測試 。 

    § 對IC上電,測試關鍵點的電壓,來檢測內部功能。 

    § 通用GPIB擴展來量測IC關鍵點波形,頻率等參數。

    系統規格

    測試點數:

             標準配備:320

         大型主機:可以擴充至4096

    測試項目:

            最大測試步驟:300000setp

    測試時間:

            開路/短路測試:1000點約≤1Sec(Typical DUT)

    測試范圍:

        電阻: 0.01Ω至40MΩ      

    電容:0.1pF10000uF

    電感: 1.0uH60H

    二極管/三極管:0.19.99V

    Zener Diode:標準0.1V50.0V

    功能測試: 0.00V50V

    軟體系統:"支持winxp,win2003,winvisat/多語言"

     應用領域:

     

    一,IC品質不高的來料檢查,查出率在99.5%以上,且速度快。

    二,大批量返修IC的檢測。

    三,不良IC的故障原因的查找及統計,以便改進設計。



    新手教學
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