高速解析近紅外光領域的分光光譜機。
可量測帶有吸收近紅外光領域特質的膜厚樣品，相較於一般光譜機量測範圍更為加大。
搭配附屬的選配附件，量測環境不受限制，適用於各領域量測。
提供架設於製程線上(In-line)的及時監控規劃。
| 發光光譜量測 |
| 穿透率、吸收率光譜量測 |
| 反射率光譜量測 |
| 膜厚量測 |
MCPD-5000 | MCPD-N500 | |
| 波長範圍 | 900 ~ 1600 nm | 1100 ~ 2500 nm |
| 分光元件 | 刻線全像顯影光柵，F=3，f=135mm | 全像顯影光柵，F=3，f=135mm |
| 波長精度* | ±2 nm | |
| 感光元件 | InGaAs線型影像感測器(電子冷卻) | |
512ch | 256ch | |
| 解析能力 | 1.7nm | 6.3nm |
| 曝光時間 | 1msec ~ 10sec | |
| 光纖規格 | 混鍺石英製光纖（Ge Doped），長約2m(標準型) | |
| 通訊介麵 | 232C | |
| 尺寸重量 | 430（W）×350（D）×187（H）mm，約15kg | |
* 波長校正用光源對氖物理輝線之確認值
■發光光譜分析機系統
■反射光譜分析機系統
■穿透、吸收光譜分析機系統
■膜厚光譜分析機系統
■光學配件
■光纖
■量測平臺
■外部光源
■專用軟體
■其它
新手教學
批發市場僅提供代購諮詢服務，商品內容為廠商自行維護，若有發現不實、不合適或不正確內容，再請告知我們，查實即會請廠商修改或立即下架，謝謝。
