可測量從0nm開始的低相位差（殘留應力）。

  檢測光學軸的同時，同步高速測量相位差 (Re.)。(世界最高速0.1秒以下的測量解析)
  偏光檢測儀無任何驅動幹擾，可提高再現性測量精度。

  無需復雜參數設定，操作簡單易懂。

  550nm以外，亦可支持其它波長測量。

  Rth測量、全角度測量。(需搭配自動旋轉傾斜裝置)

  搭配拉力測試機可同時測量薄膜偏光特性與光彈性。(此系統為特殊規格)

液晶層間隙檢查機 RETS series      相位差測量檢測機 RETS-100

     RE-100為采用光結晶像素與CCD感測器所構成的偏光檢測儀。搭配帶有穿透率性質的各式偏光元件，可以高速同時進行相位差與光學軸的測量。
     CCD感測器會自動擷取經過偏光後所呈現的畫面，不需要任何的驅動軸來尋找偏光後的受光強度。不但可提高再現性的精度、更具備長時間使用的安定性。

■相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機能性薄膜、
■樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(玻璃殘留應力)

■ 視野角改善膜 A

■ 視野角改善膜 B

■USB傳輸，可適用於多種環境的架設。
■超高速測量，最適用於生產線中的即使監控。
■可搭配復數偏光檢測儀，同時進行多點位、多角度(Rth)測量。

新手教學

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