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照相: 利用背射老厄法照相,底片安裝在晶體與X射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過所記錄的為向後方向上的衍射光束,可以用衍射光束的方向來測量未知晶體單位晶胞的形狀和大小,以測定晶體的取向和評定晶體的完善性定向。定向: 利用高壓發生器產生X射線,X射線通過單色器,衍射線被單色化後到樣品上,在符合公式nλ=2dsinθ時,產生衍射,衍射線被計數管接收、放大通過微安表顯示其強度,顯示器讀出該晶片角度值。JF-2、JFD-3適用於冶金、電子、工礦企業大專院校