加工定制:否 | 類型:鍍層測厚機 | 品牌:SEIKO/精工 |
型號:SFT-110 | 測量范圍:原子序號22(Ti)--83(Bi)(mm) | 顯示方式:數字顯示 |
電源電壓:管電壓:50kV(V) | 外形尺寸:670*850*675(mm) |
- 測量主機
樣品臺
樣品觀察部
X射線發生部
信號檢測部
電源供應部
- 主機控制部
X-ray Station操作簡便的控制軟件
- 測量元素
金屬鍍層是從原子序數22Ti到83Bi,當金屬元素低於21Al時,用吸收法測量。
2.測量方法
薄膜標準曲線法:單層鍍層膜厚測量
雙層鍍層膜厚測量
合金鍍層膜厚測量
薄膜FP(基本參數)法:各種薄膜,最大5層,各層10種元素
選項
塊體檢量線法(電鍍液分析)
塊體FP法(材料組成分析)
- 數據處理功能
搭載Ms-Word,Ms-EXECL (使用宏支持制作檢查成績書)測量能譜與樣品圖象保存功能
- 標準曲線制作功能
測量條件自動設定功能
多點標準曲線
標準曲線斜率表示功能
底材修正功能
以知樣品修正功能
手動輸入修正功能
- 可測量厚度范圍
原子序號22Ti——24Cr:0.2——20um 原子序號25Mn——40Zr:0.10——30um
原子序號41Nb——51Sb:0.2——70um 原子序號52Te——83Bi:0.05——10um
(可測量范圍因元素而不同)
測量主機:
1) 機器外部尺寸:670*850*675mm
2) 重量:120KG
3) X射線發生部
X射線管:w靶材微焦距
管電壓:50KV
管電流:最大1mA可調
油箱:密封式空冷油箱
準直器:0.1mm,0.2mm(圓形)自動切換
一次濾波器:Al濾波器/OFF自動切換
4) X射線檢測器:比例計數器
5) 樣品觀察機構
樣品照明:LED燈,上方照射
亮度調節:軟件自動調節控制
觀察:彩色CCD攝像頭
放大倍率:30x
6)對焦方式:鐳射自動對焦功能利用鐳射焦點自動對焦
7)工作臺:260*210mm電動XY平臺
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