Dimension Edge原子力顯微鏡
Dimension傢族新成員，閉環掃描，極高性價比
快速測量、結果準確、圖像分辨率高
測試范圍廣，適用於任何樣品的測試
先進的納米尺度測量，適用於各技術水平
Dimension Edge
性價比高，大樣品臺AFM的最佳解決方案
Dimension® Edge™原子力顯微鏡采用最新技術，其機器性能、測試功能和操作性在同類產品中處於最高水平。基於頂級的Dimension Icon®平臺, Dimension Edge系統的整體設計使其具有低漂移、低噪音的特點,大大提高瞭數據獲取速度和可靠性，使用這臺全新的機器，幾分鐘時間即可獲得高質量、可發表的專業數據。這些檢測性能的提高，並沒有影響機器的價格，絕對低於您對如此高性能原子力顯微鏡的支出預算。此外，視覺反饋集成化和預配置可選功能輔助用戶獲得更高質量的測量結果。整套機器充滿人性化的設計，適用於各個研究階段和科研水平的用戶。
性價比最高的閉環Dimension系列AFM
專利的傳感器設計既獲得瞭閉環的精度，又具有開環的噪音水平。
顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺AFM上實現瞭小樣品臺AFM的成像性能。
顯微鏡和電路的設計既保證瞭高成像性能，又使得價格適中。
快速，精確，高分辨的測量結果
全新的可視化操作界面,整體采用流程式設計，確保快速簡便的設定各步驟參數
5百萬像素的高分辨率相機和馬達驅動可編程平臺，提供快速樣品導航和高效多點測量
從大范圍掃描到最高分辨檢測的無縫過渡可在短時間內獲得準確結果。
適用於任何樣品上的任何應用的解決方案
開放式平臺設計可適應各種實驗和樣品的需求。
新機器的設計和軟件利用瞭最完備的Bruke AFM掃描模式和檢測技術，滿足最前沿的應用需求。
內置的信號路由模塊，幫助研究者根據新的研究方向和實驗需求，自定義檢測模式。
先進的納米級測量能力，適用於各研究水平
創新型模塊化設計，不提高機器成本的前提下，實現更高的測量性能。
最新的8型軟件，凝聚10幾年AFM專業研發精華，常規掃描模式外，根據實驗需求，配備各種備選模式。
完整的控制平臺，既可直觀導航，又可進行強大的編程控制。
DIMENSION系列AFM提供瞭最優質的AFM性能
Dimension Edge原子力顯微鏡既具有卓越性能，保留瞭Dimension ICON系統的諸多技術創新，中等價位的價格與機器功能達到瞭最好的平衡。其中最核心的技術是Bruker創新性的閉環掃描，結合溫度補償位置傳感器和模塊化的低噪音控制電路，這套針尖掃描部件把閉環噪音減小到瞭單個化學鍵長度。為瞭最大限度的發揮這一優點，掃描器被固定在一個堅固的，具有漂移補償的橋梁結構上。此橋梁結構基於FPGA的溫度控制並快速穩定到極低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力顯微鏡結合瞭高生產效率，高精度，大樣品臺的樣品通用性，閉環操作和以前僅在小樣品臺、開環機器上才能獲得的高分辨率圖像等特點，能夠獲得任何樣品的真實圖像，實現突破性的實驗成果。
完備的AFM功能
Dimension Edge既包含瞭各種常規的掃描模式和Bruker專利技術，還提供瞭針對各種具體應用領域的解決方案，例如納米級的電學測量，可控環境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應用中獲得精確成像和單點譜線測量，例如從太陽能和半導體器件的表征和多相聚合物材料成像，到從單分子到全細胞的生命科學樣品的原位成像和單個納米顆粒的研究。
電學表征
Dimension Edge不僅僅是把一個AFM探針連接到低噪音電流放大器上，而是開發瞭Dark Lift模式，Dark Lift是在導電原子力數據把光電效應從樣品的本征電導性中清晰分離的唯一方法。它是基於佈魯克已申請專利的，應用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中著名的抬起模式（Lift Mode）。系統利用這兩種性能以確保在靜電電勢成像應用的最優化測試。迄今為止，結合瞭Dark Lift模式的閉環（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對摻雜濃度表征的最精確的解決方案。然而，如果研究者想要以最高靈敏度來探測小電壓的變化，也可很容易地把抬起模式與表面電勢顯微鏡結合起來。Dimension Edge系統通過雙頻的方法，能夠為任何靜電電勢成像的應用提高理想的解決方案。
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