加工定製:否
品牌:島津
型號:EDX-720
測量範圍:EDX-720
測量對象:EDX-720
測量精度:EDX-720
尺寸:EDX-720
unit:mm}, 重量:5
unit:kg}, 適用範圍:EDX-720
是否跨境貨源:否
產品簡介
島津EDX-720 島津EDX 島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-720採用當今世界先進的技術,能夠精確地對塑料、金屬及電子部件的成分進行定性分析、定量分析和定性半定量分析,滿足目前RoHS的分析要求。儀器的分析元素含蓋11號元素到92號元素。
產品詳細信息
詳細介紹:
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一、島津EDX- 720 X射線熒光光譜儀主機部分:
1、 X射線發生器單元
X射線管
類型Rh靶
冷卻方法空冷(附風扇)
2X射線電源單元
電壓5-50kV,每步1Kv(測定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時,可以用50kV。但測定輕元素時,15kV是最有效的。另在工作曲線法中,隨時可設定最佳電壓。)電流1-1000μA,每步1μA
穩定度±0.01%(外電壓波動±10%)
保護電路過電壓, 過電流, 過功率,
X射線連鎖保護
(特點說明:電壓、電流可以由計算機控製自動調節,滿足不同元素的高精度分析,同時滿足RoHS,ELV指令擴展的要求)
3、一次X射線濾波片5種自動交換
(特點說明:不同元素應該採用不同的濾光片進行分析,這樣才能有效降低背景,得到高準確度的測量數據。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應的濾光片,無須手動更換)
二、島津EDX-720 X射線熒光光譜儀檢測器:
1、檢測器
類型Si(Li)檢測器
液氮只有在分析時添加
液氮消耗少於1升/天
檢測麵積10mm2
分析元素Na-U
分辨率:小於150電子伏特
(特點說明:採用液氮製冷方式的檢測器具有高分辨率,可以避免元素譜線之間的干擾,從而保證高準確度的分析。在性能、實績、穩定性上,Si(Li)半導體是絕對性的實績(島津檢測器是自己生產,在萬一發生故障也迅速對應)。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時,容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、並時不能檢出,還有因為是低強度,在測試金屬中有害元素的感度也差。 )
2、計數單元
放大器
擬合時間10μ秒
增益變化高/低
多道分析器(MCA)
變頻型順序比較ADC
道數2048道
最大計數率232-1/道
三、島津EDX-720 X射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元
1、樣品室
蓋子自動開啟/關閉(帶安全系統)
每次測定時蓋子自動上升與下降。
最大樣品尺寸 300mm 直徑x 150mm高
(特點說明:樣品室自動開啟,樣品蓋子的結構設計有效避免X光的洩露,滿足日本及中國X射線的洩露控製標準。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試,無須切割)
2、測定室
X射線照射麵積下照射
光欄直徑1、3、5、10mm可選
(特點說明:不同的分析麵積採用不同尺寸的光欄,可以保證各種大小樣品的高精度測試。)
測定室開孔13mm
3、測定氣氛:大氣
4、CCD觀察定位系統
配備CCD數碼觀察系統,可以準確定位分析區域。
1。 X熒光光譜儀,XRF,EDX-720配置新型濾光片,提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。
2。 X熒光光譜儀,XRF,EDX-720配置高計數率電路,增加檢測器的計數量。
3。 X熒光光譜儀,XRF,EDX-720增加時間縮短功能,由熒光X射線強度算出測定精度,自動判斷所需最少測定時間。
4。 X熒光光譜儀,XRF,EDX-720增加自動工作曲線選擇功能,依據識別樣品種類的不同而選擇最適宜的工作曲線
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