商品代碼:645614

  • 3英寸拋光硅片直徑76mm 雙拋 鍍膜紅外掃描專用 晶體分析
    商品代碼: 645614
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    商品詳細說明
    用途:實驗測試種類:元素半導體
    加工定制:


    產品參數

    產品尺寸

    3英寸雙面拋光硅片

    生長方式

    直拉單晶(CZ)

    直徑和公差mm

    76.2±0.3mm

    型號/摻雜類型

    N型(摻磷、砷、銻) P型(摻硼)

    晶向

    <111><100><110>

    電阻率

    0.001-50(Ω·cm) 可按照客戶要求定制不同電阻率范圍

    平整度TIR

    <3μm

    發票

    可提供機打發票

    翹曲度TTV

    <10μm

    彎曲的BOW

    <10μm

    粗糙度Ra

    <0.5nm

    顆粒度pewaferr

    <10(forsize>0.3μm)
    包裝方式10片封裝、25片封裝 超潔凈無塵鋁箔封裝 每片價格70元

    現有庫存厚度 微米μm

    需定制
    用途用于工藝等同步輻射樣品載體、PVD/CVD鍍膜做襯底、磁控濺射生長樣品、XRD、SEM、原子力、紅外光譜、熒光光譜等分析測試基底、分子束外延生長的基底、X射線分析晶體半導體光刻
    支付方式公對公轉賬、支付寶付款、貨到付款、銀行匯款 13735050004 QQ 17243284
    加工定制加工定制周期1-3周不等,詳情請于公司聯系.
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    新手教學
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