Sc-2011型半導體粉末電阻率(四探針)測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀,粉末，半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，還可以對有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有高精度加壓系統, 高度測量的測試臺和儀器組成.
可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的必需儀器。
儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據測試需要安放在一般工作臺或者專用工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的恒流源組成，測量結果由數字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。
1．范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴展至105Ω—cm，分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /□
電阻10-6—105Ω
2．可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm
3．測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）
4．數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字）
2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字）
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
(4)顯示3 1/2位數字顯示，0—1999
具有極性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示
5．恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
（3）電流誤差：±（0.3%讀數+2字）
6．四探針測試探頭 （1）探頭間距：1mm (2)探針機械游率：±0.3%
(3) 探針：Φ0.5mm (4)壓力：可調
7．測試架：
（1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
（2）粉末測試臺
8．電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W
9．外形尺寸：電氣箱130×110×400mm
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