商品代碼:418267

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    供應SC-2011半導體粉末電阻率
    商品代碼: 418267
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    商品詳細說明

    Sc-2011型半導體粉末電阻率(四探針)測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀,粉末,半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量,還可以對有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料,特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有高精度加壓系統, 高度測量的測試臺和儀器組成. 
    可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質量監測的必需儀器。
    儀器為臺式結構,分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據測試需要安放在一般工作臺或者專用工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續可調,測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
    儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的恒流源組成,測量結果由數字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點,儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校,對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

         1.范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm

             方塊電阻10-3—103Ω /□

             電阻10-6—105Ω

      2.可測半導體尺寸:直徑Φ15—150mm

      3.測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)

      4.數字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

      (2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數+8字)

                  2 mV檔以上±(0.3%讀數+2字)

      (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω

                  20mV檔以上>108Ω

      (4)顯示3 1/2位數字顯示,0—1999

    具有極性和過載自動顯示,小數點、單位自動顯示

      5.恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續可調,由交流電源供給

       (2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

       (3)電流誤差:±(0.3%讀數+2字)

      6.四探針測試探頭  (1)探頭間距:1mm   (2)探針機械游率:±0.3%

                       (3) 探針:Φ0.5mm    (4)壓力:可調

      7.測試架:

      (1)手動測試架:探頭上升及下降由手動操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

      (2)粉末測試臺  

         8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W

       9.外形尺寸:電氣箱130×110×400mm



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