大麵積矽漂移（SDD）能譜技術，更優異的分析性能；
更好的分辨率，80mm2的探頭標準分辨率可達127eV（MnKa)；
20mm2, 50mm2, 80mm2可選，更高的計數率，更高的工作效率；
低束流下的高計數率，冷場掃描電鏡的理想選擇；
高計數率下的高效率，與EBSD集成的最佳配合；
簡單高效的現場維護，保證您的系統8小時恢復正常，包括窗口破裂；
著名的INCA導航界麵，豐富強大的分析功能；
最新AZtec軟件，自定義界麵，操作更靈活，並與EBSD完全一體化
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