溫度循環試驗箱說明：為瞭仿真不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要註意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。
產品特點:
規范試驗條件： | a.可設定任意沖擊溫變率5℃～30℃(40℃)[任意變化溫變率條件] |
| b.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB |
| c.可設定依據待測品溫變率控制 |
| d.試驗結束待測品回常溫避免結霜結露技術 |
| e.采用鋁片驗證機臺負載能力(非塑料負載) |
| f.進行兩箱沖擊時測試區濕度符合規范要求 |
| g.可執行低溫0度沖擊並省電 |
創新&特色： | a.單一機臺可執行RAMP(設定溫變率)、三箱(過常溫)、兩箱(高低溫沖擊)沖擊試驗 |
| b.可試驗待測品負載數量大 |
| c.需除霜循環數高(500cycle除霜一次)，縮短試驗時間與電費 |
| d.傳感器放置測試區而非風道口符合實驗有效性 |
控制系統： | a.內建雙向USB2.0隨身碟儲存接口(可拷貝試驗曲線與加載試驗程序) |
| b.完整實時試驗曲線分析顯示，無時間限制 |
| c.可與e化管理系統進行整合監控 |
新手教學
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