 | 塗層測厚機 PC-LEPTOSKOP 2050 |
| 應用實例為 PC-leptoskop 2050： 筆記型電腦與個人電腦軟件statwin 2002， 電腦微型探頭和定位裝置 |
| PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH公司提供膜層測厚機的探頭，它隻需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚機的功能均可通過與WINDOWS操作系統匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現。 當啟動statwin 2002時，一個真實的塗層測厚機顯示圖像就可以顯示在個人電腦的屏幕上。 所有功能操作隻需點擊一下鼠標或鍵盤。STATWIN 2002用statwin 2002，可以分批儲存和管理幾乎任何數量的測量數據。 文件和歸檔幾乎是無限的。 此外，該軟件附帶瞭大量的統計功能，可以實現測量評估和批次。 除瞭有測量鐵磁性基體上非鐵磁塗層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導電材料上的非導電層塗層的厚度（如非鐵金屬上的漆層） ，測量范圍到1200 μ m的標準探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm，我們同時還提供完整的配件。 |
| 訂貨信息 STATWIN 2002電腦軟件 2904.001 用於Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0 |
| 探頭，測量范圍和訂貨號 |
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| 探頭 |
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