基本組成：檢具主體、校準件、電子柱。

    用途：測量殼體件接口端麵的平麵度。

    主要技術指標:

         1、分辨率：按檔位分0.1μm 、0.2μm 、0.5μm和1.0μm；

         2、量程范圍：與分辨力對應的為10μm、20μm、50μm和100μm。

    基本組成：檢具主體、校準件、電子柱。

    用途：測量殼體件接口端麵的平麵度。

    主要技術指標:

         1、分辨率：按檔位分0.1μm 、0.2μm 、0.5μm和1.0μm；

         2、量程范圍：與分辨力對應的為10μm、20μm、50μm和100μm。

    基本組成：檢具主體、校準件、電子柱。

    用途：測量殼體件接口端麵的平麵度。

    主要技術指標:

         1、分辨率：按檔位分0.1μm 、0.2μm 、0.5μm和1.0μm；

         2、量程范圍：與分辨力對應的為10μm、20μm、50μm和100μm。

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