X-熒光鍍層測厚機CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚機是一種功能強大的材料塗/鍍層測量機器，可應用於材料的塗/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基於Windows2000
中文視窗系統的中文版 Smartlink FP 應用軟件包，實現瞭對CMI900/950主機的全麵自動化控制，
技術參數：                   
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量機,在技術上一直以來都領先於全世界的測厚行業
A：  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料並定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領先於世界，精確到0.025um  (相對與標準片)
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚機能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大麵積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
 一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 

新手教學

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