商品代碼:403061

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    供應BC3193半導體分立器件測試系
    商品代碼: 403061
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    商品詳細說明
    產品品牌:半導體分立器件測試系統;
    產品型號:BC3193

    BC3193 半導體分立器件測試系統系統用途BC3193半導體分立器件測試系統是半導體參數測試的專用設備, 用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試系統特點◆ PC機為系統的主控機◆  菜單式測試程序編輯軟件操作簡便◆  預先連接測試自動識別NPN/PNP◆  0~±2000V程控高壓源◆  高達±1000A程控高流源(外接高流臺可擴充到±1000A)◆  測試漏流最小分辨率達6.1pA◆  四線開爾文連接保證加載測量的準確◆  通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞國家   計量標準對系統進行校驗◆  Prober接口、Handler接口可選(16Bin)◆  可為用戶提供豐富的測試適配器 測試對象二極管/穩壓管/恒流二極管/整流橋/瞬態抑制管:  BVR、IR、VF、VZ、RZ三極管:  BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT可控硅:    BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、      IH、IL、VGT、VON場效應管:      BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VPIGBT:         BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)達林頓矩陣:ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO單結晶體管:Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2光敏二、三極管:ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE光 耦(輸出類型:二極管、三極管、可控硅、MOSFET): CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR (加時間測量選件Tr、Tf、Toff、Ton)固態繼電器:IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von 硬件基本配置主控計算機一臺:Windows操作系統、PCI插槽1個以上;計算機PCI接口板(CPUINT)一塊;系統接口板(SYSINT)一塊(含GPIB接口);數據采集板(VM)一塊;40A/30V程控電流電壓源(VIS)二塊;±2000V程控電壓源(HVS)一塊;電流/電壓轉換板(IVC)一塊;電源控制板(PWC)一塊;測試臺矩陣板(STATION)一塊;自檢模板2個;測試適配器4個(二極管、TO-92、TO-3、TO-220)    

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