商品代碼:402207

  • 供應龍天LT-RC半導體動態老化系統
    商品代碼: 402207
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    商品詳細說明
    產品品牌:龍天
    產品型號:LT-RC

    在老化期間,IC是在最高電氣條件下和125℃ 的典型溫度下經過48/96/160或240小時等的試驗,試驗時限視失效機理而定。這裏介紹3種老化方法:穩態老化(SSBI)、靜態老化(SBI)、動能老化(DBI)。由于SSBI和DBI對于複雜器件來說是無效的,因爲外部偏壓和負載不可能給內部節施加足夠的壓力。DBI 可把有源信號施加到IC上,然後擴展到內部節上,所以大規模IC通常使用動能老化 DBI 。    按産品的級別,老化亦可分爲3類:封裝級老化(PLBI)、芯片級老化(DLBI)和晶圓級老化(WLBI)。晶圓級老化的主要好處是保證最終産品的可靠性,當在普通老化中失效的不見必須報廢或廢棄時,在它們已經通過許多過程步驟之後,全部産品費用就可能增加,因此可能有效降低成本。WLBI 的另一個優點是高成品率和缺陷數據能快速反饋。這樣就使生産過程能更主動地排除故障。ESPEC同時提供晶圓級老化設備,歡迎垂詢。



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