供應GSL-101BI激光粒度分佈測量機、粒度機、顆粒粒度檢測機器_粒度儀_分析儀器_儀器、儀表_貨源

GSL-101BI型激光顆粒分佈測量機性能、特點

1、測量范圍：0.15~400 微米

單透鏡測量，全部光學系統固定在3毫米厚的鋼制底座上，無論測量Dv50隻有零點幾微米的細樣品還是超過幾百微米的粗樣品，都無須更換透鏡和調整光學系統。這樣設計不僅保障瞭光學系統的穩定性，而且具有良好的避震性能，同時避免瞭多透鏡光路系統，由於在測試過程中，更換透鏡及調整光學系統所導致的系統誤差。

註1：激光顆粒分佈測量機的光學系統是非常精密的，機器出廠前，光路已準確調整至相應位置，並加以緊固，隻有這樣才能保障測試結果的準確。光路如果稍微出現偏差，尤其對於較粗樣品，測量結果誤差將成倍增加。

註2：根據本所實驗，采用多透鏡測量方式，使用同一臺機器，對同一個樣品，分別使用兩組不同焦距的透鏡進行測量，得到的兩組測量結果有顯著的差別，這不符合自然規律，對於同一個樣品，不管用多少焦距的透鏡測試，隻能有唯一結果，而且在這種情況下，使用戶難以斷定，如何選擇透鏡的焦距才能得到接近真值的結果，因此我所不采用多透鏡的設計方法。

2、光電探測陣列：主通道 70個，側向探測通道12個

根據前麵的簡單原理介紹，光電探測陣列為激光粒度測量機器最為關鍵的部件。本所沒有采用國內廠傢普遍使用的31通道環形探測陣列，因為此探測陣列通道數量少、麵積小，無法滿足用戶對粒度測試指標的精度要求，而是在國內首傢進行瞭獨立開發。在光電探測器在開發過程中，參考瞭國外一些先進機器的光電探測器的性能指標如通道數量等，同時綜合瞭我國目前的加工能力，和機器硬件、計算數據處理能力等多方麵因素，最終確定主光電探測陣列的通道數為70道，側向、後向探測陣列分別為12道。

在光電探測器的生產過程中采用瞭嚴格的質量控制手段，70個光電傳感器件都做在同一個矽基片上，保證瞭每個光電傳感器都具有一致的光電特性，並在側向增加瞭12（後向12）個輔助測量通道（見圖1，及有關原理的簡單介紹，由於目前加工能力限制，主光電探測陣列的長度不可能超過110毫米，對於小於0.4微米的顆粒散射光便接收不到，但采用瞭側向測量通道後，便可以接收到，如圖1中最小顆粒的散射光束A，從而在設計上保證瞭小顆粒的測量）,這些措施保證瞭我所研制的光電探測陣列具有良好的性能和很長的使用壽命。

由於目前的科技水平、加工能力、及機器硬件、計算機的處理能力等方麵的限制，還不能做到對光強樣品中所有直徑的顆粒所發出的衍射、散射光能的連續測量，隻能在特定的分級點（通道）上對光能進行測量（也就是說，隻有特定分級點上的頻率、累積數據才是真正測量結果，如機器使用31個通道的光電探測陣列，卻得出64個分佈數據，則另32個就是經過插值處理計算出來的，並非真實的測量結果），所以光電探測陣列的通道數量就是衡量此類機器測量準確性的關鍵因素，在理想的激光顆粒測量機中應具有無限多個分級點（通道），這樣才可以做到對樣品中所有直徑的顆粒進行連續測量，但目前還難以實現，因此國際上普遍采用的方法就是，在設計此類機器時，根據能夠達到的水平盡可能增加光電探測器采樣通道的數量（如美國BECKMAN COULTER公司的LS230型激光粒度分析機使用的光電探測陣列的通道數多達131個），因為隨著通道數量的增加，相應的分級點也越多，測量結果也就越接近樣品的真實分佈狀態。我所目前生產機器使用的光電探測陣列通道數已達70+12（24）個，不僅在國內領先，而且已經接近國外某些先進機器的水平。如通道較少的話，尤其對於分佈比較窄的樣品，如單分散樣品，其測量結果誤差較大，有時甚至不能得出測量結果。對比圖3和圖4，圖3為我所研制的第二代激光顆粒分佈測量機的測量結果，其采樣通道為31個，圖4為我所目前生產的GSL-101BI型激光顆粒分佈測量機的測量結果，其采樣通道為82個，可以看出雖然同一種樣品，但由於通道數量的大幅度增加，使樣品測試結果的準確性及分辨率有瞭極大的提高。