針對LED進行壽命測試，設備硬件依據LM-80標準測試方法開發設計，完全符合LM-80測試要求。該系統可精確設定高低溫環境，使LED暴露在高溫環境下，同時又精確控制LED結溫，使LED在高溫條件下老化，加速其光度衰減。並可根據不同時間節點的測試數據，推算出LED的壽命。系統設計極為人性化，LED老化設備方便與積分球系統對接測量，有效的提高測量效率。

特點

  環境溫度能夠有效控制LED的老化環境溫度，即周圍空氣溫度

  濕度控制對於老化溫度箱內的濕度進行自動控制，並滿足LM-80要求

  殼溫控制能夠控制每一組LED的殼溫

  溫度測試在廠傢指定TS點的情況下，能夠對每一顆LED的殼溫進行測試

  電流控制每一顆LED由獨立電流源供電，可單獨控制輸出電流

  時間采集精確采集每一組LED被點亮的老化時間

  故障管理自動扣除失效LED的老化時間

  關閉周期開關型LED，自動扣除關閉半周的時間

  測試速度能夠在120秒內測量一組20顆LED

  光度測試5/10/20顆LED一組，每顆LED可順序切換，單獨測試光度值

  色度測試5/10/20顆LED一組，每顆LED可順序切換，單獨測試色度值

  系統標準標準燈可追溯到NIST

  條碼掃描可根據要求拓展條形碼掃描功能，自動讀取產品編號

  控制備份有自主備份計算機，既可實現數據備份，也可實現控制備份

  測試參數包括光度參數、色度參數、溫度參數、濕度參數、時間參數、電學參數

  系統分離整個系統分為老化、測量、分析輸出三部分

  壽命估算提供參考壽命估算模型，也可以定制分析方法

  測試報告自動輸出測試報告，並根據分析方法，得出壽命推算值

案例

  東莞質檢

  常州質檢

新手教學

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