A．ICT治具用於測試電子板卡的短路/開路現象以及電子元件是否裝錯誤，方向是否正確，其本身的零件值是否正確，集成塊(IC)的焊接是否良好（但無法測IC的功能）
B．ATE治具除包含有ICT治具的全部功能外，並可測試IC的功能
2.2 治具分類
ICT/ATE治具分為五類：
A．單麵ICT/ATE測試治具（SINGLE SIDE TEST FIXTURE:適用於單麵有測試點的待測板）
B．雙麵ICT/ATE測試治具（DOUBLE SIDE TEST FIXTURE;適用於雙麵有測試點的待測板）
C．二層式ICT/ATE測試治具（TWO LEVEL TEST FIXTUREL適用於單麵有測試點的待測板，且制作SENSOR）
D．單麵真空ICT/ATE測試治具（SINGLE SIDE VACUUM TEST FIXTURE）
E．雙麵真空ICT/ATE測試治具(DOUBLE SIDE VACUUM TEST FIXTURE)
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