產品介紹：

大多數半透明的或者光吸收的薄膜可以被快速的可靠的測量：氧化物、氮化物、光刻膠、聚合物、半導體材料（Si、aSi、PolySi）、復合矽材料（AlGaAs、InGaAs、CdTe、CIGS）、硬膜（Paralene、PMMA、Polyamides）、金屬薄膜等等。

技術指標：

■厚度范圍：5nm-800μm

■波長范圍：200nm-5000nm

應用范圍：

■太陽能電池薄膜應用：aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe-全太陽能電池堆疊測量

■LCD、FPD應用：ITO、Cell Gaps、Polyamides

■光盤：介質濾光片、硬塗層、反射塗層

■半導體：Oxides、Nitrides、OLED stack

■200nm氧化層厚度的100個測量值

■實時測量及分析：多層的，不同薄厚的，獨立和非均勻塗層

■可擴展材料庫（超過500中材料）：Cauchy、Tauc-Lorentz、Cody-Lorentz、EMA等等

產品特點：

■使用靈活：桌麵或固定式，在線研發等

■測量：厚度、光學常數、表麵粗糙度

■生產準備：後臺刻度校準、操作員/工程師界麵、■靈活的系統配置。連接層和材料、多種樣品檢測、動態測量和批量處理

■CdS/GIGS堆疊測量結果匹配VS數據產生

新手教學

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