PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺
技術說明書
1. 系統簡介
晶體管熱敏參數的快速篩選技術是一種新的篩選技術，它是采用在短時間內(一般為數秒)對晶體管施加超穩態額定功率的辦法，使晶體管的結溫迅速接近或達到最高允許結溫TjM，通過快速檢測晶體管熱敏參數VBE、ICEO（或ICBO）和hFE ,及其在加功率前後的變化量、變化率△VBE、ICEOH和△hFE％，並以此為失效判據參量，淘汰超標的晶體管，達到剔除早期失效器件的目的，同時，所施加的超穩態額定功率模擬瞭被試管實際使用時可能出現的浪湧電壓、電流等應力，以考核被試管承受沖擊的能力，這項技術已例入國傢標準SJ／T10415－93和國軍標GJB 128A－97，並實現瞭機器化。
本機器能按規定對被測管施加一個電流、電壓、脈寬可調的功率脈沖，具有足夠的熱敏參數測試量程和精度，根據被測管設定的失效判據，具有失效報警、自動數據處理並顯示和打印數據等功能。當被測管由於穿通、二次擊穿和熱擊穿的瞬間，具有自動保護能力。
2. 主要功能及技術指標
2.1 能測試篩選大、中、小功率三極管。
2.2 能測試加溫前、加溫後的30多個參數，並能任意選擇全部或
部分選項，一次性自動檢測；若選擇常溫測試每隻隻需1秒多。
2.3 可任意設定測試條件及判據，並保存在系統中，通過瀏覽方式
任意調取。
2.4 測試結果在大屏幕液晶顯示器LCD上顯示，超標器件
自動聲光報警。
2.5 測試結果通過統計可獲得最大值、最小值、平均值。
2.6 測試條件、失效判據、檢測結果、測試時間、器件型號及編號
可通過打印機打印輸出。
2.7 操作簡便，隻需選擇器件型號即可進入連續檢測，測試口有否
被測管自動識別。
2.8主要技術指標 ：（誤差±5%）
VBE、VBC 測試范圍： 0.1V — 1V
測試條件： 1mA — 50mA
hFE 測試范圍： 5 — 2000倍
測試條件： VCE =1V — 25V，IC=1mA — 6A
ICEO、 ICBO 、IEBO 測試范圍： 0.1uA — 10mA
測試條件： 10V — 1000V(VEB:1V--100V)
V(BR)CEO、V(BR)CBO 測試范圍： 10V — 990V(V(BR)EBO5V--100V)
V(BR) EBO 測試條件： 50uA — 10mA
VCES、VBES 測試范圍： 0.1V — 3V
測試條件： VCE=1V — 10V， IC=10mA — 6A，
IB=1mA — 1A
加溫PCM 范圍：VCE =5V — 25V ，IC：= 0.1A — 6A
加溫時間： T= 0 — 10S
2.9 電網電壓: 220V±10% 頻率: 50HZ
2.10 整機最大功耗: 150W
2.11 環境溫度: 0℃—30℃
2.12 相對濕度： ≤85％
2.13 重量：15kg
2.14 外形尺寸：（ 寬×高×深mm） 450×180×460
2.15 其它：無強電磁場乾擾和有害腐蝕性氣體
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