【官方網址】http://www.henergysolar.com/product/hs-clt.htm
合能陽光少子壽命測試機(HS-CLT)，是一款功能強大的少子壽命測試機，不僅適用於矽片少子壽命的測量，更適用於矽棒、矽芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀矽少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到6000μs，矽料電阻率下限達0.1Ω.cm(可擴展至0.01Ω.cm)。測試過程全程動態曲線監控，少子壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應表麵復合效應等缺陷情況，是原生多晶矽料及半導體及太陽能拉晶企業不可多得少子壽命測量機器。
少子壽命測試機-產品特點
■測試范圍廣：包括矽塊、矽棒、矽芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、矽片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量。
■主要應用於矽棒、矽芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、矽塊、矽片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等。
■適用於低阻矽料少子壽命的測量，電阻率測量范圍可達ρ＞0.1Ω?cm（可擴展至0.01Ω?cm），完全解決瞭微波光電導無法檢測低阻單晶矽的問題。
■全程監控動態測試過程，避免瞭微波光電導（u-PCD）無法觀測晶體矽陷阱效應，表麵復合效應缺陷的問題。
■貫穿深度大，達500微米，相比微波光電導的30微米的貫穿深度，真正體現瞭少子的體壽命的測量，避免瞭表麵復合效應的乾擾。
■專業定制樣品架最大程度地滿足瞭原生多晶矽料生產企業測試多種形狀的矽材料少子壽命的要求，包括矽芯、檢磷棒、檢硼棒等。
■性價比高，價格遠低於國外國外少子壽命測試機產品，極大程度地降低瞭企業的測試成本。
少子壽命測試機-推薦工作條件
■溫度：23±2℃
■濕度：60%~70%
■無強磁場、不與高頻設備鄰近
少子壽命測試機-技術指標
■測試材料：矽半導體材料 - 矽棒、矽芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、矽塊、矽片等，鍺半導體材料。
■少子壽命測試范圍 :1μs-6000μs
■可測低阻矽料下限： 0.1Ω.cm, 可擴展到 0.01Ω.cm
■激光波長： 1.07μm
■激光在單晶矽中的貫穿深度： 500μm
■工作頻率： 30MHz
■低輸出阻抗，輸出功率＞ 1W
■電源：～220V 50Hz 功耗＜50W
少子壽命測試機-典型用戶
北京，浙江，四川，河北，河南等地的矽料生產企業及半導體光伏拉晶客戶
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