| 加工定制：否 | 品牌：恒平 | 型號：756 |
| 類型：自動化學分析機 |
紫外可見分光光度計，常熟天平機器，756PC型光度計特點：
754產品適用於對紫外、可見光譜區域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用於工廠、學校、冶金、農業、食品、生化、環保、石油化工、醫療衛生等單位的基礎實驗室。
一階過零、一階線性標準曲線測試、最多可建立12個標樣點的標準曲線。
標定曲線擬合度，濃度直讀，可保存50條曲線參數。
濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。
系統時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數據接口，燈切換波長設置。
8鍵鍵盤，內置6個常用工作波長，一鍵調取(752)
UV-Solution 2.0工作站軟件，具有各種測試、掃描功能(756PC)
型號 | 752 | 754 | 756PC |
帶寬 | 4nm | 4nm | 2nm |
波長范圍 | 200~1000nm(步進間隔0.1nm) | 190~1100nm(步進間隔0.1nm) | 190~1100nm(步進間隔0.1nm) |
波長準確度 | ±2.0nm(開機自動校準) | ±1.0nm(開機自動校準) | ±1.0nm(開機自動校準) |
波長重復性 | 1nm | 0.5nm | 0.5nm |
測定范圍 | T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 | ||
透射比準確度 | ±0.5%T | ||
透射比重復性 | ±0.2%T | ||
雜散光 | ≤0.5%T(在220nm、340nm處) | ≤0.3%T(在220nm、340nm處) | ≤0.15%T(在220nm、340nm處) |
基線直線性 | / | / | ±0.004A |
穩定性/基線漂移 | ±0.003A/h | ±0.002A/h | ±0.002A/h |
顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 | ||
外形尺寸：455*430*220(mm)
軟件型號 | 適用機器 | 軟件功能 |
UV-Solution 1.0 | 752、754 | 定量測試、吸光度監視等功能 |
UV-Solution 2.0 | 756PC |
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