ng>譜橢偏機ng>(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶矽/單晶矽絨麵表麵單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對太陽能電池應用的光譜橢偏機基於最佳的橢偏光路設計，高靈敏度探測單元和光譜橢偏機分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數，光學帶寬等。
ng>光譜橢偏機ng>ng>-ng>ng>產品特點ng>
ng>■ng>連續波長的光源為用戶提供瞭更大的應用空間
ng>■ng>更簡便快捷的樣品準直方法
ng>■ng>軟件具備豐富的材料數據庫
ng>■ng>允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質
ng>■ng>全波長多角度同時數據擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表麵粗糙度分析
ng>■ng>具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
ng>■ng>光譜范圍寬達250 - 1100nm (可擴展至250-1700nm)
ng>■ng>功能強大的光譜橢偏測量與分析軟件
ng>光譜橢偏機ng>ng>-ng>ng>技術指標ng>
ng>■ng>光源：氙燈
ng>■ng>光斑直徑：1-3mm
ng>■ng>入射角范圍：20°到90°,5°/步
ng>■ng>波長范圍：350-850nm，250-1100nm，250-1700nm：0.002°~ 0.02°
ng>■ng>波長精度：1nm
ng>■ng> 測量時間: < 8s（取決於測量模式和粗糙度）
ng>■ng> 樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200200mm電池片,其他尺寸
ng>■ng> 測量精度：0.02nm
ng>■ng> 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Sing> ng>
ng>■ng> 厚度測量范圍：0.01nm ~ 50um
ng>■ng> 消光比：10-6
ng>光譜橢偏機ng>ng>-ng>ng>可選配ng>
ng>■ng>CCD線陣列探測元件：200-850nm，350-1000nm
ng>■ng>樣品顯微鏡
ng>■ng>高穩定性消色差補償器
ng>■ng>透射測量架
ng>■ng>XY移動樣品臺
ng>光譜橢偏機ng>ng>-ng>ng>典型客戶ng>
美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。
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