Sol™ 2.6是B&W Tek推出的高性價比線陣銦鎵砷（InGaAs）陣列光譜機，標配256元InGaAs陣列。檢測器采用半導體三級致冷至-15oC，具備很高的光通量和寬的動態范圍。
光譜機采用SMA905標準光纖接口，內建16位數字轉換器，即插即用USB2.0數據傳輸接口，它具有內建自動降噪功能（Autozero），可自動降低噪聲及其不均勻性，從而增加信噪比。
采用B&W Tek的操作軟件，用戶可選擇四種運行模式：最高動態范圍；高動態范圍；高靈敏度；最高靈敏度。B&W Tek可根據用戶的不同應用需要配置不同的光譜分辨率。
TE半導體致冷：
采用內建的熱電冷卻器對陣列檢測器進行致冷是降低暗噪聲的有效手段，這同時可以增大檢測器的動態范圍和提高其檢測限。當InGaAs檢測器從室溫25℃被致冷到-15℃時，其暗電流將降低約32倍，其暗電流噪聲將降低約5.7倍。這使得光譜機可以用於更長積分時間下的檢測，例如對於微弱信號的檢測，同時還可提高檢測光譜的信噪比。
特點 | 應用 |
• 1550 - 2550nm光譜范圍 •內建自動降噪功能（Autozero） •檢測器三級致冷 •低噪音，高靈敏度 •四種動態范圍/靈敏度模式可選 | •過程監控 •近紅外光譜 •質量控制 •在線分析 •材料鑒定 |
1) 檢測器
Sol™2.6近紅外光譜機標準配置采用TE致冷256元擴展銦鎵砷（InGaAs）檢測器，像元大小為50μm×250μm。檢測器上每個像元對應於所測量光譜的一部分，光子被一個個的像元俘獲並穿過檢測器轉化為電子，它們的強度可在BWspec軟件中顯示出來。內建自動降噪功能（Autozero）是通過降低每個像元上的電壓來降低噪聲及其不均勻性，從而增加信噪比。與無Autozero的檢測器比較，Autozero可增加信噪比50倍。
通過BWSpec™,用戶可在四種運行模式中切換：最高動態范圍；高動態范圍；高靈敏度；最高靈敏度，以適應不同光譜檢測應用的需求。
規格 | ||
波長范圍 | 1550nm - 2550nm | |
像元 |
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尺寸 | 50μm × 250μm | |
阱深 | 最高動態范圍: ~250,000,000e 高動態范圍: ~125,000,000e 最高靈敏度: ~12,500,000e 高靈敏度: ~1,250,000e | |
讀出速度 | 500 kHz | |
2) 狹縫
決定光通量和光學分辨率
光通過光纖或透鏡聚焦進入預裝好的狹縫進入光譜機光路。狹縫最終決定瞭光譜機的光學分辨率和光通量。
狹縫 | 尺寸 | 光譜分辨率 | |
75μm | 75μm×1mm | ~15.0nm | |
客戶定制可選 | |||
3) 光柵
光柵是影響光譜覆蓋范圍和光譜分辨率的主要因素。光柵的刻線密度越高，光譜機的光譜分辨率越高，而光譜覆蓋范圍則越窄。相反，減小光柵的刻線密度，可以增大光譜覆蓋范圍，但光譜分辨率會隨之降低。光柵的閃耀角和閃耀波長也是光譜機的關鍵參數。閃耀角決定瞭光譜機在特定波段的最大效率。
光譜范圍(nm) | 光柵 | 分辨率 50μm狹縫
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1550-2550 | 100/2500 | 15.0nm |
客戶定制可選 | ||
技術指標
直流輸入 | 5V DC, 5A |
交流輸入 | 100 - 240VAC 50/60 Hz, 1.0A @ 120VAC |
檢測器類型 | 線性InGaAs陣列檢測器 |
像元數 | 256×1 @ 50μm×250μm |
光譜機F# | 3.5 |
光譜機光路 | Crossed Czerny-Turner |
動態范圍 | 最高動態范圍模式: 20,000:1 高動態范圍模式: 10,000:1 高靈敏度模式: 2，500:1 最高靈敏度模式: 250:1
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數字分辨率 | 16-bit或65,535:1 |
讀出速度 | 500 kHz |
數據傳輸速度 | 大於300譜/秒（USB 2.0） |
積分時間 | 250μs~64s |
外觸發 | Aux Port |
操作溫度 | 0℃- 35℃ |
TE致冷 | -15℃ |
相對濕度 | 80% |
重量 | ~1.4 kg |
尺寸 | 197mm×109mm×68mm |
計算機接口 | USB 2.0 / 1.1 |
操作系統 | Windows XP, Vista (32-bit), Win 7 |
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