供應大平臺檢測顯微鏡_顯微鏡_光學儀器_儀器、儀表_貨源

產品介紹:XLE-1型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的。主體為：正置式、三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合於觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監視器直接觀察。可連接計算機打印報告、照片或連接數位相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，並建立技術檢測檔案，存儲、查詢，可省去復雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大的提高瞭工作效率。
檢測顯微鏡具有獨特的特點：
1）放大倍數：40倍至500倍；
2）超大型載物臺，樣品可作大范圍的縱、橫方向快、慢速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用於電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等。
主要技術參數
1.機械筒長 160mm
2.物鏡
放大倍數	數值孔徑	有效工作距離（mm）	介質
4×	0.1	17.912	幹
10×	0.25	6.544	幹
20×	0.4	1.05	幹
40×	0.65	0.736	幹
3.目鏡
放大倍數	焦距	視場直徑	備註
10×	25	18
12.5×	25	14	選配
4.放大倍數 40×--500×
5.載物臺面積 350mm×255mm
縱向移動范圍---200mm
橫向移動范圍---200mm
6.粗微動調焦范圍 25mm,微調轉動一圈樣品升降0.2mm,格值
0.002mm
7.光源鎢鹵素燈6V20W。內藏式連續調光電源
8.物鏡轉換器四孔式 (三孔式)
9.目鏡筒三目鏡 (雙目鏡)

新手教學

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