產品執行標準 | DIN50987,ISO3497,ASTMB568 |
測試原理 | EDXRF能量色散X熒光光譜法 |
測量樣品 | 固體、液體、粉末 |
功能 | 單鍍層和多鍍層測厚與元素分析 |
最多可分析6層(不包括基層) | |
鍍液成份分析 | |
高壓發生器 | |
輸入電壓 | 24VDC±10% |
輸出電壓 | 0-50kV |
輸出電流 | 0-2.0mA |
輸出精度 | 0.01% |
X射線管 | |
X射線管靶材 | W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可選 |
X射線管窗口 | Be窗 |
電氣參數 | 50W, 4-50kV,0-1000uA |
冷卻方式 | 油冷卻 |
X射線照射方向 | 從上往下↓ |
照射范圍 | Φ0.1mm |
使用壽命 | 15000-20000h |
探測器 | |
探測器類型 | 矽-PIN半導體探測器 |
元素分析范圍 | Al13-U92 |
能量分辨率 | FWHM<145eV |
探測窗口 | 鈹窗,窗口面積:25mm2 |
冷卻方式 | 熱電制冷 |
鍍層測厚與元素分析指標 | |
元素分析范圍 | Al13-U92 |
測厚范圍 | 0.005—35 um |
第一層精密度/準確度 | 相對標準差5%以下(厚度大於0.5um時) |
第二層精密度/準確度 | 相對標準差10%以下(厚度大於0.5um時) |
測量時間 | 10-60s |
譜處理系統 | |
處理器類型 | 全數字化32-bit DSP |
譜通道數 | 256,512,1024,2048可供選擇 |
計數率 | 大於100000cps |
能量范圍 | 500eV-40960eV |
死時間 | <3% |
光路系統和樣品觀測 | |
準直器系統 | 單一固定準直器Φ0.1mm |
對焦系統 | 鐳射激光對焦 |
樣品觀察系統 | 300萬像素高清CCD攝像頭,20倍光學變焦 |
樣品室 | |
樣品室內部空間 | (寬×高×深):455×60×430mm |
樣品臺尺寸 | (寬×深):250×275mm |
樣品臺承載重量 | ≤5kg |
試驗樣品最大尺寸 | 寬×高×深:440×50×410mm |
樣品臺控制方式 | 三維程控電動樣品臺 |
工作臺移動技術數據 | X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm |
工作臺移動精度 | 0.005mm |
計算機和軟件 | |
控制計算機 | 聯想品牌機,2G內存,500G 硬碟驅動 |
顯示器 | 聯想19寸LCD顯示器 |
操作系統 | WindowsXP |
報告結果 | Word、Excel格式 |
軟件 | 鍍層測厚軟件、元素分析軟件 |
軟件類型 | FP基本參數法軟件 |
軟件語言 | 簡體中文、繁體中文、英文、其它 |
譜顯示 | 自動峰定性,KLM標記,譜重迭比較 |
譜處理 | 總強度,凈強度,背景強度;全面積,凈面積,多元素擬合,高斯擬合 |
資料分析 | 基本參數,基本譜圖,無標樣測試,峰位修正,底材修正。 |
重量和尺寸 | |
設備主體尺寸 | 寬×高×深:W 503×H635×D790mm |
主體重量 | 約80kg |
使用環境 | |
工作環境 | 溫度15-25℃,濕度40-70%RH |
電源系統 | 單相220V±10%,6A.工作電壓在允許范圍內 |
其它 | 1.不要靠近產生強磁場,電場,高頻等裝置;2.減少振動3. 粉塵少,濕度低,無腐蝕性氣體;4. 日光不能直射;5. 作為地震的對策,要考慮裝置的固定。 |
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