M1 MISTRAL 是采用X射線熒光技術的光譜機，可對大件樣品和鍍層樣品經行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各類不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。

樣品尺寸最大可達100×100×100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。

光管位於樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品，如精工細作的珠寶或不同厚度的樣品。

M1 MISTRAL的應用領域很廣，我們選擇常見的例子進行介紹。

測量鍍層樣品：

采用X射線熒光技術的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標樣基本參數法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性

測定鍍層樣品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu

珠寶及合金分析：

M1 MISTRA是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品。不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K（開）表示。

新手教學

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