產品介紹:XLE-3型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路,晶體的質量檢測而設計開發制造的。 | |||||
正置式,三目鏡筒,比傳統的顯微鏡更適合於觀察。上部安裝彩色攝像機連續彩色監視器可直接觀察。可連接計算機打印報告、照片或連接數位相機,照相機直接拍照,還可以直接進行圖像記錄,並建立技術檢測檔案,存儲,查詢,可省去復雜煩瑣的攝影,洗印等暗室工作,大大的提高瞭工作效率。 | |||||
1)放大倍數:40倍至500倍; | |||||
2)超大型載物臺,可作大范圍的縱橫方向快、慢速移動,擴大檢測領域的使用范圍,適用於電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門,以及金相技術檢驗,失效分析等 | |||||
主要技術參數 | |||||
1.機械筒長160mm | |||||
2.物鏡 | |||||
放大倍數 | 數值孔徑 | 工作距離 | 介質 | 使用范圍 | 配置 |
4× | 0.1 | 17.912 | 空氣 | 明場 | 1 |
10× | 0.25 | 6.544 | 空氣 | 明場 | 1 |
PC20× | 0.4 | 1.05 | 空氣 | 明場 | 1 |
PC40× | 0.65 | 0.736 | 空氣 | 明場 | 1 |
3.目鏡 | |||||
放大倍數 | 焦距 | 視場直徑 | 備註 | ||
10× | 25 | 18 | - | ||
12.5× | 25 | 14 | 選配 | ||
4.物鏡: | |||||
放大倍數,400倍至500倍 | |||||
5.載物臺面積 400mm×300mm | |||||
縱向移動范圍---254mm | |||||
橫向移動范圍---254mm | |||||
6.調焦機構:同軸粗微調機構,調焦范圍36mm.格值0.002mm | |||||
7.光源:內藏式連續調光電源,鎢鹵素燈12V/50W。 | |||||
8.物鏡轉換器 五孔式 (四孔式) | |||||
9.目鏡筒 三目鏡 (雙目鏡) | |||||
10.機器功能,明場,偏光,攝影等 | |||||
11.機器重量:17公斤 | |||||
12.機器體積:長560mm,寬530mm,高400mm |
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