● 類型：X123探測器（原裝進口高性能電致冷半導體探測器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶體麵積：25mm2
● 最佳分辨率：145eV
● 信號處理系統：DP5
X射線管
● 電壓：0-50v
● 最大電流;2mA
● 最大功率:50W
● 靶材：Mo
● Be窗厚度：0.2mm
● 使用壽命：大於2w小時
高壓電源
● 輸出電壓：0-50Kv
● 燈絲電流0-2mA
● 最大功率：50w
● 紋波係數：0.1%（pp值）
● 8小時穩定性：0.05%
攝像頭
● 焦距：微焦距
● 驅動:免驅動
● 像素：500萬像素
准直器、濾光片
● 系統：快拆卸准直器、濾光片系統
● 材質：多種材質准直器
● 光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、 Φ4.0mm可選
● 組合：多種濾光片（軟件自動切換）、准直器組合
十字激光頭
● 光斑形狀：十字線
● 輸出波長：紅光650nm
● 光學透鏡：玻璃透鏡
● 尺寸：Φ10×30mm
● 發散角度：0.1-2mrad
● 工作電壓：DC 5V
● 輸出功率：<5mW
● 工作溫度：－ 10～50℃
● 儲存溫度：－40～85℃
其它配件
● 開關電源：進口高性能開關電源
● 散熱風扇：進口低噪聲、大風量風扇

產品特點：

輻射保護
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線
● 輻射標誌警示
●儀器經權威第三方檢測，X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》
硬件技術
● X射線下照式，激光對焦可調樣品倉，對於大件樣品、異形不平整樣品，無需拆分打磨，可直接測試
● 模塊化准直器，根據分析元素，配備不同材質准直器，從而降低准直器對分析元素的影響，提高元素分辨率
● 最小光斑0.2m m，可針對各種樣品中的小測試點精確定位，避免材質乾擾，測量結果更準確
● 空氣動力學設計，加速光管冷卻，有效降低儀器內部溫度；靜音設計
●電路系統符合EMC、FCC測試標準
軟件技術（HeLeeX ED Workstation V3.0）
● 分析元素：Na~U之間元素
● 分析時間：90秒
● 界麵簡潔，模塊化設計，功能清晰，易操作
● 數據一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能，保護用戶數據安全
● 根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準度
● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。