半導體缺陷檢測系統
半導體缺陷檢測系統 為瞭完全替代傳統的人工檢測在引腳共面度時由於引腳很小，導致人眼非常容易疲勞，檢測效率低下，檢測人員的勞動強度大，而且檢測結果容易受到檢測人員主觀因素的影響。而高精度的機器視覺系統在行業是應用極大的解決瞭這些問題，因此已經被廣泛應用於高精度IC外觀自動檢測中。
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半導體缺陷檢測系統
半導體缺陷檢測系統 為瞭完全替代傳統的人工檢測在引腳共面度時由於引腳很小，導致人眼非常容易疲勞，檢測效率低下，檢測人員的勞動強度大，而且檢測結果容易受到檢測人員主觀因素的影響。而高精度的機器視覺系統在行業是應用極大的解決瞭這些問題，因此已經被廣泛應用於高精度IC外觀自動檢測中。
