探針測試臺_模型、手板_模具_機械設備_貨源

ZLKST-102C型探針測試臺（英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機。)、與測試機器配接後可用於集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數測試及功能調試，適用於科研、新品試製及小批量生產的中間測試。

技　術　指　標 ：

工作臺麵	370mm*245mm
載物臺直徑	4"
放大倍數	50倍、100倍，固定倍數；
監視方式	顯微鏡和USB介面CCD攝影頭共存的監視方式
光學參數	手輪調焦范圍：60mm；升降調焦范圍：200mm；
精密旋轉臺	粗調范圍：360°；微調范圍：±10°；最小刻劃：1°；銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座	探針座X、Y、Z方向調節范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；三維探針座在工作臺麵可任意位置固定，由磁性開關控製；最多可佈三維探針座6個；探針臂伸出長度：60mm；探針長度：40mm；
探針	探針材質硬質合金，針尖曲率半徑2μm；

新手教學

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