商品代碼:4534040
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    供應太陽能評價系統
    商品代碼: 4534040
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    商品詳細說明
    日本批發5000起批
    日本大阪批發教學團
    前進中國

    非接觸·非破壞測定透明導電膜·a－Si等膜的厚度。
    < Spectra  Thick系列的特點 >
    ●非接觸·非破壞測定
    ●實時測定·多點測定
    ●豐富的n（折射率）、k（消光系數）模式
    ●2D·3D數據庫映像表示
    ●全自動階段控製（取決於機種）
    ●自動聚焦（取決於機種）
    ●還能夠用UV光源（選項）測定薄膜的厚度
     
    < 基本性能 >
     
    ST2000
    ST4000
    ST5030
    測定波長范圍
    400～800nm
    測定膜厚范圍
    200A～35μm
    100A～35μm
    測定點直徑
    10μm
    40μm／10μm  選項4μm
    測定時間
    1～2秒鐘／點
    多層膜測定
    最多可以測定3層多層膜
    階段尺寸
    150×120 mm
    300×300 mm
    300×300 mm


    新手教學
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