- 產品品牌:巴拓
- 產品型號:BDT-33
- 類型:半導體檢測測顯微鏡
用途:BDT-33 系列正置反射高倍半導體檢測測顯微鏡適用于對不透明物體進行顯微觀察。儀器配置落射照明 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構,廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物質。如金屬太陽能板、半導體封裝測試、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層,及其它非金屬材料,對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校,科研機構,工廠等的理想儀器。成像系統簡介:BDT-33V/BDT-33C電腦/數碼系列高倍半導體檢測顯微鏡通過光電轉換后可與計算機,數碼相機以及電視機等設備結合在一起,不僅可以在目鏡上觀察,還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像,還可在計算機,數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 性能特點:配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡,視場大而清晰。 粗微動同軸調焦機構,粗動松緊可調,微動格值:2μm。帶限位鎖緊裝置6V 20W鹵素燈,亮度可調。三目鏡筒,可自由切換正常觀察,可進行100%透光攝影技術參數:
平場目鏡 | 放大倍數(X) | 視場(mm) | ||
10X | Φ18 | |||
20x | Φ11 | |||
10x(分劃目鏡) | Φ18 | |||
平場消色差物鏡 | 放大倍數(X) | 數值孔徑(NA) | 工作距離(mm) | |
5X | 0.12 | 18.3 | ||
10X | 0.25 | 8.9 | ||
20X | 0.45 | 8.7 | ||
40X | 0.60 | 3.7 | ||
60x | 0.85 | 0.26 | ||
100x(油) | 1.25 | 0.44 | ||
光學放大倍數 | 50X 100X 200X 400X 600X 1000X 2000X | |||
系統參考放大倍數 | 50X-3000X | |||
目鏡筒 | 三目鏡,傾斜30˚ 瞳距調節范圍:53-75mm | |||
照明系統 | 落射照明器,6V/20W鹵素燈,220V(50Hz)亮度可調具 | |||
偏光裝置 | 三目頭內置檢偏振, 可插入式起偏振片,垂直照明裝置, | |||
調焦機構 | 粗微動同軸調焦,粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置微動格值:0.002mm, 調焦范圍15mm | |||
轉換器 | 四孔(內向式滾珠內定位 | |||
濾色片組 | 黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃 | |||
載物臺移動范圍 | X方向:75mm ; Y方向50mm | |||
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