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    AB204-S梅特勒分析天平
    商品代碼: 4155647
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    商品詳細說明
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    前進中國

    梅特勒AB分析天平
     
     
     

    天平特點

    AB經典系列電子分析天平

    精確、操作簡便、性能可靠、經久耐用——這是對梅特勒-托利多AB經典系列天平最恰當的評價。

    • 采用單模塊傳感器技術，具有緊湊而堅固的結構和良好抗過載、抗沖擊性能
    • 采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術（FACT），有效消除環境溫度變化對稱量結果精確性的影響
    • 采用亮背景液晶顯示屏，方便用戶在不同稱量環境下讀取稱量結果
    • 金屬鑄鋁製成的防化防撞擊機架，保證天平的長期使用
    • 標配機架塑料保護罩，實現天平的快速清潔
    • 可拆卸防風罩設計，避免散料樣品的腐蝕
    • 內置RS232通訊介面，方便連接打印機、電腦等外圍設備
    • 具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態稱量等內置應用程序

    技術參數

    型   號

    AB135-S/FACT

    AB265-S/FACT

    AB54-S/FACT

    AB204-S/FACT

    AB204-S/FACT

    		 

    型   號

    AB135-S

    AB265-S

    AB54-S

    AB104-S

    AB204-S

    		 

    型   號

     

    		 

     

    AB104-L

    AB204-L

    		 

    可讀性mg

    0.01/0.1

    0.01/0.1

    0.1

    0.1

    0.1

    		 

    最大稱量值g

    31/120

    61/220

    51

    110

    220

    		 

    重復性(s)mg

    0.03/0.1⑴

    0.03/0.1⑴

    0.1

    0.1

    0.1

    		 

    線性誤差mg

    0.2⑵

    0.2⑵

    0.2

    0.2

    0.2

    		 

    稱盤尺寸(mm)

    ￠80

    ￠80

    ￠80

    ￠80

    ￠80

    		 

    防風罩有效高度(mm)

    237

    237

    237

    237

    237

    		 

    外形尺寸(W×D×H)

    245×321×344mm

    AB-L：外置砝碼校準（需選購）；

    AB-S：內置砝碼校準；

    AB-IC：內置砝碼校準;

    AB-S/FACT：采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術（FACT）。

    （1）精細量程內10 g樣品典型重復性：0.02mg;（2）精細量程內10 g樣品典型線性：0.03mg



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