由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，它們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻率的測量。用途：（1） 金屬、半導體、導電高分子薄膜（塊體）電阻率的測量；（2） 金屬薄膜材料電阻率的測量（最大厚度0.2毫米）；金屬塊體材料電阻率的測量（最大厚度6毫米）儀器組成：1、 四探針組件由具有引線的四根探針組成。2、 SB118精密直流電流源輸出電流10-6~0.2安培范圍內可調。3、 直流數字電壓表
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