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[8161-0168-0001] 非易失性半導體存儲裝置
[摘要] 防止誤寫入的非易失性半導體存儲裝置。多個存儲器晶體管串聯,兩端分別通過選擇柵極晶體管連接到位線和公用源極線上構成nand單元。給nand單元的被選中的存儲器晶體管的控制柵極加上寫入電壓vpgm進行寫入,給其兩鄰的非被選存儲器晶體管的控制柵極加上vss。在該寫入動作中,在選中從位線bl一側算起的第2號存儲器晶體管時,給從位線bl一側算起的第1號和第3號以后的非被選存儲器晶體管的控制柵極加上中間電壓。
[8161-0058-0002] 半導體晶圓干燥方法
[摘要] 一種半導體晶圓干燥方法,包括有以下步驟:a.晶圓定位;b.惰性氮氣(n2)噴入;c.純水注入;d.定速排水與氣化異丙醇(ipa)噴出;e.快速排水;f.干燥;此種干燥方法無污染,能在短時間內干燥半導體晶圓,且由于在干燥過程中異丙醇(ipa)不需加熱且氣化量極少,不致造成破損與危險,相對具較佳的安全性。
[8161-0009-0003] 點接觸平面柵型單電子晶體管及其制備方法(二)
本發明涉及微電子器件和微加工方法,特別是涉及一種點接觸平面柵型高溫單電子晶體管及其制備方法。用電子束光刻方法及常規光刻法來制備。在襯底上的導電材料層中有源極和漏極;在源極和漏極之間是一含有量子點的窄通道,在窄通道兩邊是點接觸平面柵,在導電材料層上為一沉積的絕緣材料層,在絕緣材料層上覆蓋有表面柵。本發明的單電子晶體管量子點的大小可達原子尺度,能在室溫下工作,滿足單電子晶體管正常動作的兩個基本條件。
[8161-0216-0004] 具有改進的發光效率和輻射率的長效聚合物發光裝置
[摘要] 通過在裝置中使用包括低逸出功層和高逸出功高反射率層的多層陰極以及高逸出功高反射率陽極材料可以提高由有機發光材料制造的發光二極管(leds)的發光效率和輻射率。
[8161-0190-0005] 低壓模式且經通道擦寫的快閃存儲單元及其制作方法
[摘要] 一種低電壓模式且經通道擦寫的快閃存儲單元及其制作方法,包括一n型基底,基底上設一深p型井,深p型井上堆疊一n型井;n型井內布植有深p型布植區及淺p型布植區,深p型布植區與淺p型布植區相連,深p型布植區內還布植有n型布植區,與深p型布植區連接,淺p型布植區一側也布植有n型布植區;該三重井結構在操作時可分別施加同電壓到深p型井與n型井,使漏電流降至最低,抵消端點電壓,降低線路復雜度,提高操作效率。
[8161-0130-0006] 包含非易失性半導體存儲器的半導體集成電路裝置的制造方法
[摘要] 本發明的課題是一種具有非易失性半導體存儲器的半導體集成電路裝置的制造方法,包含以下的工序(a)至(k)。(a)形成元件隔離區300的工序;(b)形成具有第1柵絕緣層12和字柵用的第1導電層并具有在第1方向上延伸的多個開口部的層疊體的工序;(c)形成第2柵絕緣層22的工序;(d)在第1導電層的兩側形成側絕緣層24的工序;(e)在整個面上形成第2導電層的工序;(f)在至少形成共用接觸部的區域上形成第1掩模層的工序;(g)通過利用各向異性刻蝕以刻蝕上述第2導電層來形成側壁狀的第1和第2控制柵、而且至少在形成共用接觸部的區域上形成接觸用導電層的工序;(h)形成構成源區或漏區的雜質擴散層的工序;(i)形成覆蓋控制柵的埋入絕緣層70的工序;(j)在形成共用接觸部的區域上形成第2掩模層230的工序;以及(k)對上述字柵用的第1導電層進行構圖的工序。
[8161-0117-0007] gan基ⅲ-ⅴ族氮化物發光二極管及其制造方法
[摘要] 在此提供一種gan基iii-v族氮化物半導體發光器件及其制造方法。在該gan鵌ii-v族氮化物半導體發光器件中包括面對相反方向或面對相同方向的第一和第二電極,在它們之間夾著高阻蝕基片,以及用于產生激光或發光的材料層,第二電極與通過高阻蝕性基片的被蝕刻區域暴露的最外材料層的一個區域直接接觸。導熱層可以形成在高阻蝕性基片的底部,以覆蓋最外材料層的暴露區域。
[8161-0213-0008] 雙極金屬氧化物半導體場效應晶體管器件
[摘要] 公開了一種半導體器件包括:至少一個單元,該單元包括一個第一種導電型的基區(32),在其中至少配置了一個第二種導電型的發射區(36a、36b);一個第二種導電型的第一個阱區(22);一個第一種導電型的第二個阱區(2a);一個第二種導電型的漂移區(24);一個第一種導電型的集電區(14);一個集電極接點(16),其中每一個單元放置在第一個阱區(22)中,而第一個阱區(22)放置在第二個阱區(20)中;該器件還包括:第一個柵極(61),安置在基區(32)上,以使一個mosfet溝道可以在發射區(36a、36b)和第一個阱區(22)之間形成;該器件還包括:第二個柵極,安置在第二個阱區(20)之上,以使一個mosfet溝道可以在第一個阱區(22)和漂移區(24)之間形成。
[8161-0086-0009] 雙位元非揮發性存儲單元的結構及其讀寫方法
[摘要] 一種雙位元非揮發性存儲單元結構及其讀寫方法,此存儲單元包括二堆疊柵結構、二堆疊柵結構間的一摻雜區,及位于二堆疊柵結構外側的二源/漏極區,源/漏極區的摻雜型態與摻雜區相同。寫入時,同時將二堆疊柵結構下方的通道打開,以通道電流的方向選擇欲寫入的浮置柵極。讀數據時,在第一浮置柵極上方的第一、第二控制柵極上施加讀取偏壓、轉移偏壓,以二源/漏極區導通與否來決定數據是否寫入,其中讀取偏壓大于擦除狀態的通道啟始電壓,小于寫入狀態的啟始電壓,轉移偏壓大于寫入狀態的啟始電壓。
[8161-0189-0010] 半導體裝置與其圖案設計方法
[摘要] 將激勵器驅動用的半導體裝置集成于一個芯片內。本發明的半導體裝置是在具有陰極激勵器、陽極激勵器以及存儲部的用來驅動表示顯示器的激勵器中,將與上述存儲部相連接的陽極激勵器區域10、12、13、16在芯片內均等分配,并在其均等分配的各陽極激勵器區域10、12、13、16的附近位置均等地配置sram18、19,從而簡化了布線的折回,可縮小芯片尺寸。
[8161-0214-0011] 發光或者受光用半導體組件及其制造方法
[8161-0197-0012] 單片式微波集成電路及其制造方法
[8161-0029-0013] ⅲ族氮化物單/多層異質應變薄膜的制作方法
[8161-0043-0014] 動態觸發器
[8161-0103-0015] 一種于一硅覆絕緣層上形成摻雜區的方法
[8161-0193-0016] 用于冷卻發熱元件的冷卻裝置和包括有冷卻裝置的電子設備
[8161-0199-0017] 存儲器件的制造和裝配結構及方法
[8161-0211-0018] 具有銦熱偶的電子組件的構造方法及具有銦熱偶的電子組件
[8161-0036-0019] 半導體裝置
[8161-0015-0020] 薄膜晶體管及其制造方法和包括該晶體管的半導體器件
[8161-0136-0021] 封裝的集成電路
[8161-0202-0022] 半導體裝置及其制作方法
[8161-0064-0023] 半導體裝置
[8161-0146-0024] 用于蝕刻碳摻雜有機硅酸鹽玻璃的方法和裝置
[8161-0012-0025] 半導體裝置及其制造方法
[8161-0203-0026] 半導體裝置和其制造方法
[8161-0157-0027] 低壓力襯里的淺溝隔離元件的制備方法
[8161-0075-0028] 有機電致發光裝置
[8161-0111-0029] 基于二極管和陰極導電性以及陰極發光的數據存儲介質
[8161-0113-0030] 一種銅銦鎵硒薄膜太陽能電池及其制備方法
[8161-0106-0031] 一種微小芯片倒扣工藝技術
[8161-0127-0032] 高準確度及靈敏度霍爾感測元件及集成電路的封裝方法
[8161-0066-0033] 一次可編程半導體非易失性存儲器件及其制造方法
[8161-0038-0034] 導熱管集熱端
[8161-0068-0035] 加熱和冷卻薄片形制品的熱處理室
[8161-0191-0036] 懸吊式電子裝置構造
[8161-0031-0037] 氣體噴射器以及包含該噴射器的蝕刻裝置
[8161-0027-0038] 磁電轉換元件及其制造方法
[8161-0095-0039] 化學機械研磨用研磨劑及基板的研磨法
[8161-0110-0040] 與安裝基片有可靠連接的半導體器件
[8161-0123-0041] 半導體裝置的制造方法
[8161-0087-0042] 半導體裝置及其制造方法
[8161-0186-0043] 一種制造半導體器件的方法
[8161-0040-0044] 電荷泵電路和使用它的非易失性存儲器的工作方法
[8161-0007-0045] 圖像拾取設備
[8161-0158-0046] 銅導線在下層之內連線的雙鑲嵌的制造方法
[8161-0082-0047] 引線框及使用該引線框的樹脂密封型半導體裝置制造方法
[8161-0092-0048] 半導體和鈣鈦礦結構氧化物p-n結
[8161-0175-0049] 半導體器件及其制造方法
[8161-0079-0050] 鐵電存儲器集成電路的高質量鉛鋯鈦酸鹽膜的制造工藝
[8161-0177-0051] 用烷基硅氧烷低聚物和臭氧化學氣相沉積氧化硅薄膜
[8161-0021-0052] 制備功率整流器裝置以改變操作參數的方法及其制得的裝置
[8161-0063-0053] 半導體設備
[8161-0151-0054] iii-v族化合物半導體晶體結構及其外延生長方法和半導體器件
[8161-0208-0055] 基底、載物臺裝置、載物臺驅動方法和曝光裝置及曝光方法
[8161-0153-0056] 預清室的硅化物清除方法
[8161-0098-0057] 化學惰性的兆赫聲波換能器系統
[8161-0210-0058] 半導體器件用的保護層
[8161-0085-0059] 半導體存儲裝置
[8161-0080-0060] 使用磁化導熱液體的散熱器
[8161-0196-0061] 適用于靜電放電防護的電壓控制元件及其保護電路
[8161-0122-0062] 薄膜形成裝置和薄膜形成方法
[8161-0188-0063] 測試嵌入式模擬/混合信號磁心的方法和結構
[8161-0135-0064] 降低電氣雜訊的球陣列封裝裝置
[8161-0150-0065] 用直流電等離子聚合在金屬表面連續形成聚合物的設備
[8161-0044-0066] 半導體集成電路裝置及其制造方法
[8161-0152-0067] 預清室的微粒防止方法
[8161-0200-0068] 嵌入式快閃存儲器及其操作方法
[8161-0170-0069] 固體攝象裝置
[8161-0033-0070] 制造半導體裝置的方法及半導體裝置
[8161-0020-0071] 多孔sog膜的制備方法
[8161-0115-0072] 太陽能電池及其制造方法
[8161-0207-0073] 壓電變壓器
[8161-0091-0074] 半導體和鈦酸鋇p-n結
[8161-0057-0075] sigec半導體結晶及其制造方法
[8161-0046-0076] 發光二極管
[8161-0093-0077] 半導體和錳酸鑭p-n結
[8161-0162-0078] 用于半導體和功率模件的絕緣襯底板
[8161-0008-0079] 存儲器一體型顯示元件
[8161-0099-0080] 壓電式彎曲變換器
[8161-0048-0081] 多晶半導體薄膜襯底及其制造方法、半導體器件和電子器件
[8161-0084-0082] 互補非易失性存儲電路
[8161-0180-0083] 利用分開的介電浮柵的新型易收縮非易失性的半導體存儲單元及其制造方法
[8161-0161-0084] 具有散熱結構的半導體封裝件
[8161-0041-0085] 具有冗余系統的半導體存儲器件
[8161-0051-0086] 半導體器件和設計掩模的方法
[8161-0181-0087] 用于控制至少一個電容調節器的裝置
[8161-0053-0088] 靜電吸盤和處理裝置
[8161-0073-0089] 修改集成電路的方法
[8161-0112-0090] 全耗盡型集電極硅絕緣體雙極晶體管
[8161-0065-0091] 金屬-絕緣-金屬場效應管
[8161-0195-0092] 具有精確導體的互連結構
[8161-0017-0093] 一種微型顯示器件及其制作工藝
[8161-0019-0094] 硅晶片的加強材料和利用這種材料制造集成電路芯片的方法
[8161-0013-0095] 半導體裝置及其制造方法
[8161-0035-0096] 制造用于半導體裝置的圓柱型電容器的方法
[8161-0134-0097] 半導體集成電路及其制備方法
[8161-0159-0098] 頂部導體包層的制造方法
[8161-0184-0099] 互補掩模對的制造方法
[8161-0102-0100] 生產氮化鎵膜半導體的生產設備以及廢氣凈化設備
[8161-0148-0101] 金屬-絕緣體-半導體場效應晶體管
[8161-0145-0102] 用于降低半導體晶片中的波紋性的方法
[8161-0001-0103] 接合頭及部件安裝裝置
[8161-0016-0104] 使發光二極管產生白色光的方法及裝置
[8161-0028-0105] 光掩模、其制造方法、圖形形成方法及半導體裝置的制造方法
[8161-0076-0106] 圖形形成方法
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[8161-0215-0109] 發光或者受光用半導體器件及其制造方法
[8161-0141-0110] 太陽能電池及其制造方法
[8161-0071-0111] 集成電路中自調準cu擴散阻擋層的制造方法
[8161-0083-0112] 半導體器件及其制造方法
[8161-0164-0113] 引線架
[8161-0069-0114] 從聚碳硅烷形成的低介電常數聚有機硅涂料
[8161-0094-0115] 用于半導體晶片的夾持裝置
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[8161-0056-0118] 半導體器件、電子裝置的制造方法、電子裝置和攜帶式信息終端
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[8161-0004-0121] 半導體裝置及其制造方法
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[8161-0059-0129] 近環繞閘極及制造具有該閘極的矽半導體裝置的方法
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