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"1 201010239140 確定半導體基板在退火爐中的中心位置的方法、對半導體基板進行熱處理的設備以及對這種設備進行校準的方法
2 200910081993 一種利用半導體照明進行通信的系統及方法
3 201010118793 對施加到半導體開關元件的電壓進行測定的半導體裝置
4 201010157314 對半導體重摻硅片電阻率進行測試并分檔的方法
5 200910244534 一種對半導體材料進行霍爾測試的裝置
6 200810208185 在半導體器件中進行失效分析的方法
7 200910178328 用于對半導體部件進行控制的方法和設備
8 200880016361 用于對超輕重量半導體器件進行激光劃片的方法和設備
9 200810145886 對半導體存儲介質進行空塊回收的方法、系統及設備
10 200880008805 發光元件封裝用有機硅樹脂組合物和通過使用其的澆注方式進行的光半導體電子部件的制造方法
11 200910146617 用于對桿形半導體材料進行傳導性加熱的電能轉換設備
12 200910159463 在半導體上進行光引發的鍍覆的方法
13 200820065959 一種利用激光與半導體致冷片進行誘垢的裝置
14 200910054626 對帶有絕緣埋層的半導體襯底進行邊緣倒角的方法
15 200780004926 用多元分析對來自半導體處理系統的計量數據進行變形
16 200780037889 利用4層系疊層體進行的半導體器件的制造方法
17 200780025337 對布置于溫室中的半導體基裝置進行冷卻
18 200810211134 載體及其涂敷方法和對半導體晶圓進行同時雙面材料移除加工的方法
19 200710122893 半導體封裝結構以及對基板上的電子組件進行放電的方法
20 200680051834 對絕緣體上半導體結構進行拋光的方法
21 200810116151 一種利用土壤進行換熱的太陽能半導體水冷空調系統
22 200810000750 光刻工藝的進行方法及半導體制造的方法
23 200710300950 進行電壓比較防止電壓比較精度惡化的半導體集成電路
24 200610119389 對半導體物理版圖進行填充的方法
25 200680020458 用于對半導體設備進行分類的方法
26 200680016398 對物品進行處理尤其對半導體元件進行清潔的方法和裝置
27 200710186550 對被處理基板進行半導體處理的裝置
28 200610112883 一種對氣體傳感器或半導體器件性能進行測試的系統
29 200710141109 對半導體集成電路進行門級別*的方法和裝置
30 200680004509 利用光脈沖對形成在半導體晶片上的結構進行的光學度量
31 200580045356 半導體制造裝置、該半導體制造裝置進行異常檢測、異常原因的確定或異常預測的方法、和記錄有用于實施該方法的計算機程序的存儲介質
32 200710104248 穩定地進行擦除操作的非易失性半導體存儲裝置及其操作方法
33 200580028488 半導體加工部件及用該部件進行的半導體加工
34 200580014786 使用可變熱阻抗對半導體激光器的波長進行溫度調諧
35 200610163060 具有對數據進行存儲的多個存儲單元的半導體集成電路裝置
36 200580015627 對半導體管芯進行編程以獲得引腳映射兼容性
37 200610103589 用于對半導體廢氣進行處理的凈氣器
38 200610016841 采用納米級半導體材料為基底進行SERS檢測的方法
39 200610071166 使*有集成電路的小片進行半導體測試的方法和裝置
40 200480026182 對半導體器件中的部件進行構圖的技術
41 200610000306 通過對半導體基板進行等離子蝕刻來制作掩模的裝置
42 200510115836 用于對半導體器件進行單晶粒背面探測的裝置和方法
43 200510087401 在自刷新模式下進行自動刷新的半導體存儲器件
44 200480010775 對被處理基板進行半導體處理的裝置
45 200480003318 半導體存儲卡及對其進行控制的程序
46 200510066673 具有進行本征時鐘控制的硬件機構的半導體器件
47 200410030059 進行半導體機臺初期流動管理的方法與相關系統
48 03815562 對半導體處理參數進行非侵入式測量和分析的方法和裝置
49 03813770 利用半導體襯底中的激光器和布拉格光柵進行可調波長轉換的方法和裝置
50 03802143 使用液體進行微球分布的方法、微球分布設備和半導體器件
51 02826352 使用不同詢問頻率的互調分量進行物件識別的半導體器件
52 02817075 電鍍銅方法、電鍍銅用純銅陽極以及使用該方法和陽極進行電鍍而得到的粒子附著少的半導體晶片
53 02160508 用于半導體芯片進行集成電路布局的記號設計的方法
54 200310116476 可在連接狀態下進行質量流控制器檢查的半導體制造裝置
55 200310104710 能夠進行高速處理的半導體存儲裝置
56 200310101774 對半導體器件進行并行測試的裝置和方法
57 00817914 與半導體進行自摻雜接觸的方法和裝置
58 02107584 具有進行本征時鐘控制的硬件機構的半導體器件
59 00813139 對存儲在非易失性可重編程半導體存儲器中的信息進行組織
60 01143373 可與被安裝的多個存儲電路的容量對應地進行冗余置換的自解析的半導體集成電路裝置
61 00809838 具有對半導體制造中的廢氣流進行氧化處理用途的廢氣流處理系統
62 00804618 用于在半導體表面進行淀積和拋光的方法和裝置
63 00807964 對半導體基片進行電鍍和拋光的方法及裝置
64 00800968 通過在半導體微芯片上進行電斑點印跡檢測法分辯單核苷酸多態性
65 99806460 用于對半導體襯底進行處理的方法和設備
66 00104392 以塊單位進行擦除的半導體存儲裝置
67 98804674 對半導體晶片表面進行平整的方法
68 97182030 利用單元庫方式進行布局設計的半導體集成電路裝置
69 99109234 能有效進行氫鈍化的半導體器件的制造方法
70 99106479 在半導體存儲芯片中進行冗余處理的裝置
71 98119663 不管備用單元配置情況如何都能進行測試的半導體存儲器
72 97110966 在半導體基底上進行離子注入的方法
73 98100997 在半導體芯片進行接合的構造和應用該構造的半導體裝置
74 89101544 對半導體材料進行熱處理的工藝和設備""
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