產品品牌：恒奧德

產品型號：CH-WSP-6

半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 型號：CH-WSP-6CH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是專用于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產廠家硅料分選測試的理想工具。1、 主要技術指標:電源：220V交流可測晶片直徑（最大）Ф100mm,方形230×220mm恒流源：電流量程為0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。數字電壓表：量程：0.1～200mV,最大分辨率：100μV電阻率顯示：三位半數字顯示：小數點、極性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω測量精度：±0.1。最大電阻測量誤差（按JJG508-87進行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。重摻檢測誤差（JJG508-87進行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%測量環境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%2、操作程序：  1、首先連好電源，打開后面板電源開關，電源指示燈亮，表示待機完畢。  2、校準設備：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀  3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可，  4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準一次設備，3、 針組件;維護及注意事項:  1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔工作  2、維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列網址：www.51658042.com