商品代碼:408431

  • 供應MidwestM398111半導體分力器件測試儀JSH7-B
    商品代碼: 408431
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    商品詳細說明
    產品品牌:Midwest
    產品型號:M398111

    JSH7-BJ2939是我公司推出的一種高端半導體分立器件測試系統。該系統充分吸收國外先進測試系統的特點,采用了先進的嵌入式計算機技術和優化結構技術、16位并行A/D和D/A技術、多級開爾文反饋技術、小信號精密測試技術以及陣列開關結構技術,并選用優質材料制作。在系統設計、選材、工藝、制作、調試、校驗等諸多方面與國內現有同類系統相比均有較大突破,從而大大提高了系統的技術性能和可靠性,保證了該系統各項技術性能指標處于國際先進、國內領先的地位。
    其特點是:側重于中小功率器件、測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重復性和一致性、很高的工作穩定性和可靠性,很強的保護系統和被測器件保護能力。系統軟件功能強大、使用靈活方便、操作簡單。系統軟件穩定可靠、硬件故障率極低,在實際測試應用中各項技術指標均可真實達到手冊技術要求。
    系統采用方便易學的窗口菜單界面,在PC機窗口提示下,輸入被測器件的測試條件,測試人員即可輕松快捷地控制系統,完成填表編程和開發測試程序、測試器件。操作人員不需具備專業計算機編程語言知識,使用簡捷方便。3分鐘即可完成一種測試編程,編寫完成后輸入儀器即可測試。當然還可以在儀器下直接進行器件測試程序及條件的編寫,方便靈活。系統和測試夾具均采用多級開爾文結構,自動補償系統內部產生的任何壓降,保證各種情況下測試結果的精度和準確性。
    優良的品質、低廉的價格、周到的服務使得該系統在國內市場具有強大的競爭實力。“高端的品質、低端的價格、周到的技術支持、全方位的客戶服務”是無儀美達產品對市場和對客戶的永恒承諾。

    *產品外觀以實際為主,圖片僅供參考*


    系統具有的主要技術特征
    采用脈沖法測試參數、脈寬可為300μS,符合國軍標的規定
    采用嵌入式計算機控制,實現脫機運行;
    16位并行D/A、A/D設計,測試速度快、精度高;
    采用多級開爾文技術,系統穩定性高,測試結果準確;
    采用三級保護技術,系統可靠,對被測器件無損傷;
    豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力、方便的用戶信息文件、統計文件方式;
    晶體三極管自動NPN和PNP 判別能力,防止選錯類型;
    二極管極性自動判別選擇,用戶測試二極管不必注意極性;
    完整的自檢/自校準能力;
    測試系統需要的其它多種數據后處理能力;


    1. 主要技術參數
    主極電壓 1200V
    主極電流 10mA
    控制極1電壓 20V
    控制極1電流 10A
    控制極2電壓 20V
    控制極2電流 1A
    電壓分辨率 1mV
    電流分辨率 1nA
    測試速度 器件不同速度也不同


    2. 可測試器件種類
    BJ2939系統測試功能更加強大,可測試八類中、小功率的半導體分立器件:
    1. 二極管 Diode
    2. 穩壓(齊納)二極管 Zener
    3. 晶體管 Transistor(NPN型/PNP型)
    4. 可控硅整流器(普通晶閘管) SCR
    5. 雙向可控硅(雙向晶閘管) TRIAC
    6. MOS場效應管 Power MOSFET(N-溝/P-溝)
    7. 結型場效應管 J-FET (N-溝/P-溝,耗盡型/增強型)
    8. 光電耦合器 OPTO-COUPLER
    上述所列類別包括各中、小功率半導體分立器件及其組成的陣列、組合、表貼器件。
    測試方法符合國家行業總規范、相應的國家標準、國家軍用器件測試標準。
    提供上述各類器件測試所用的不同封裝形式的測試夾具和測試適配器。
    可以定做各種陣列、組合封裝、表貼器件的測試夾具。
    幫助用戶開發各種器件的測試程序。


    3.測試參數注釋:
    漏電參數: IR、 ICBO、 LCEO/S、IDSS、 IDOFF、 IDGO、ICES、IGESF、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IR(OPTO)
    擊穿參數: BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)
    BVDSS、 VD、 BVCBO、、 VDRM、 VRRM、 VBB
    BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BV Z、 BVEBO、 BVGSS
    增益參數: hFE、CTR、gFS
    導通參數: VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode) 、VGSTH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON
    關斷參數: VGSOFF
    觸發參數: IGT、VGT
    保持參數: IH
    鎖定參數: IL
    混合參數: rDSON、gFS

    測試盒說明:

    測試盒共有五種:
    1:可測二極管、穩壓二極管;
    2:可測封裝為TO-92、TO-220等三個管腳在一個平面上的三端器件;
    3:可測封裝為TO-3及國內封裝為F1、F2、F3、F4三端器件;
    4:可測三個管腳分三角形排列,且器件殼體為小圓型的小功率三端器件;
    5:可測DIP4、DIP6、DIP8封裝的光電耦合器;
    測試夾具:
    測試夾具有三根夾子線,與測試盒1配合使用,用來測試器件形狀特殊,不能使用上述五種測試盒上的插座,則使用此三個夾子線直接夾在器件的管腳上進行測試。
    表貼器件
    其它表貼類型的器件,可根據實際器件的封裝定做相應的測試盒;




    新手教學
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