時代粗糙度測量微調平臺
TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。
TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。
TA630微調平臺，X—Y平麵轉角，俯仰角。
TA631微調平臺，X—Y平麵轉角。
TA630、631都用來較小幅度的，粗確調整被測量工件的位置，提高測量精度。
TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。
TA630微調平臺，X—Y平麵轉角，俯仰角。
TA631微調平臺，X—Y平麵轉角。
TA630、631都用來較小幅度的，粗確調整被測量工件的位置，提高測量精度。
TA610620630631測量(微調)平臺適合以下粗糙度機:
TR300表麵粗糙度形狀測量機,TR240便攜式粗糙度機,TR220手持式粗糙度機 ,TR200手持式粗糙度機,TR210手持式粗糙度機.
TA610620630631測量(微調)平臺不適合以下粗糙度機:
TR150袖珍組合式粗糙度機,時代TR110袖珍式表麵粗糙度機,TR100袖珍表麵粗糙度機,粗糙度噴砂/噴丸比較板 ,SRT－1（F）型表麵粗糙度測量機 ,SRM-1(A)型表麵粗糙度測量機,SRM-1(D)型表麵粗糙度測量機
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