E600系列產品,全光路輻射防護;全自動模塊化控制;人性化操作界麵;綜合應用經驗系數法、基本參數法等多種經典分析方法, 可完全滿足RoHS/WEEE相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能,根據企業物料情況量身定做,從而得到最為準確、可靠的分析測試結果,特別適用於多材料的工廠制程控制。
納優系列機器完全符合國際電工委員會IEC62321標準及中國環保標準所規定的技術要求和技術規范。 o 自選式功能組合 用戶根據自己的控制要求,可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件(二選一) o 全自動配置 全自動化的操作模式、人性化的操作界麵,測試人員通過鼠標即可完成全程操作(原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關、工作曲線的選擇全部實現自動化控制,程序會根據預先設定的測試條件自動進行所有的切換動作); o 照射區精確控制系統 可精確調整的X光照射區域控制系統,實現瞭對測試區域的準確把握。從根本上保證測試數據與實際檢測區域的完美對應。 o 成熟、經典的分析方法: 憑借國傢“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果,集成近二十五年分析測試應用經驗的經典數學分析模型,為測試者提供可靠、精準、穩定的分析結果。 o 強大的軟件功能 1、分析軟件可根據樣品材質、形狀、大小的不同自動設定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能,大幅提高測量精度; 2、提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為每傢用戶量身定做最佳的有害物質檢測和控制方案; 3、融合瞭一系列先進的光譜處理方法,包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等; 4、國際領先的XRF分析軟件,融合瞭包括經驗系數法、基本參數法(FP法)、理論α系數法等多種經典分析方法,全麵保證測試數據的準確性。 o 開放性工作曲線 用戶可很方便的根據自身材質狀況,針對性的建立風險材料的專用工作曲線,全麵提高工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度,全麵提升來料允收判定依據的可靠性。 o 嚴謹的硬件集成與結構設計 對可能影響整機精確度及穩定性的核心器件,全部采用進口高端原廠器件。 模塊化設計與組件選擇,確保瞭整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。 特別設計的原級、二次濾光系統,既保證瞭對有害元素的激發效率,同時全麵降低瞭作為乾擾因素的背景強度,充分提高峰背比,大幅度降低檢出下限。 o 全光路射線防護系統 X光管、探測器、復合濾光處理系統、CCD、定位系統、全自動準直器切換系統等光路處理器件均集成在密閉結構中。確保光路系統的穩定性與密閉性,充分保證瞭測試安全。 合理的8種復合濾光片組合和自動切換系統,既可以降低來自原級X射線乾擾的影響,提高被測元素的靈敏度和測試精度,同時還具有輻射自動防護功能,有效保護操作者安全。 特制高效散熱系統,大幅度提供機器的可靠性。全光路射線防護設計,又避免瞭無射線區域的無謂屏蔽與保護,進一步提高瞭散熱效率。全麵提升瞭機器的環境適應性與穩定性。 全光路輻射防護配合經典的迷宮式輻射防護設計,同時采用軟、硬件雙重安全連鎖,確保操作人員人身安全。 相關技術參數:
1、機器尺寸 Instrument dimensions | 730mm*440mm*330mm |
2、樣品腔尺寸 Dimension of sample cavity | 400mm*400mm*100(h)mm |
3、重量 Weight | 約30Kg (about 30 Kg) |
4、工作環境溫度 Working condition temperature | 溫度 temperature:15-30℃ |
5、工作環境相對濕度 Working condition relative humidity | ≤80% (不結露 No dew) |
6、可分析元素范圍 Analyzable elements range | S-U |
7、最低檢出限 Lowest limit of detection | Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm Pb≤5ppm Cl≤60ppm |
8、測量時間 Testing time | 100-400s(軟件自動調整) (Automatic adapted by Software) |
9、最佳分辨率 Best resolution | 149±5eV |
10、輸入電源 Input electrical source | AC 220V±10%,50Hz (建議配置凈化穩壓電源) (The purification voltage-stabilizing is proposed) |
11、額定功率 Rated power | 300W |
NaU-E700能量色散X熒光光譜機,全光路輻射防護;全自動模塊化控制;人性化操作界麵;綜合應用經驗系數法、基本參數法等多種經典分析方法, 可完全滿足RoHS/WEEE相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能,根據企業物料情況量身定做,從而得到最為準確、可靠的分析測試結果,特別適用於多材料的工廠制程控制。
納優系列機器完全符合國際電工委員會IEC62321標準及中國環保標準所規定的技術要求和技術規范。
• 自選式功能組合
用戶根據自己的控制要求,可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件(二選一)
• 全自動配置
全自動化的操作模式、人性化的操作界麵,測試人員通過鼠標即可完成全程操作(原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關、工作曲線的選擇全部實現自動化控制,程序會根據預先設定的測試條件自動進行所有的切換動作);
• 照射區精確控制系統
可精確調整的X光照射區域控制系統,實現瞭對測試區域的準確把握。從根本上保證測試數據與實際檢測區域的完美對應。
• 成熟、經典的分析方法:
憑借國傢“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果,集成近二十五年分析測試應用經驗的經典數學分析模型,為測試者提供可靠、精準、穩定的分析結果。
• 強大的軟件功能
1、分析軟件可根據樣品材質、形狀、大小的不同自動設定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能,大幅提高測量精度;
2、提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為每傢用戶量身定做最佳的有害物質檢測和控制方案;
3、融合瞭一系列先進的光譜處理方法,包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等;
4、國際領先的XRF分析軟件,融合瞭包括經驗系數法、基本參數法(FP法)、理論α系數法等多種經典分析方法,全麵保證測試數據的準確性。
• 開放性工作曲線
用戶可很方便的根據自身材質狀況,針對性的建立風險材料的專用工作曲線,全麵提高工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度,全麵提升來料允收判定依據的可靠性。
• 嚴謹的硬件集成與結構設計
對可能影響整機精確度及穩定性的核心器件,全部采用進口高端原廠器件。
模塊化設計與組件選擇,確保瞭整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。
特別設計的原級、二次濾光系統,既保證瞭對有害元素的激發效率,同時全麵降低瞭作為乾擾因素的背景強度,充分提高峰背比,大幅度降低檢出下限。
• 全光路射線防護系統
X光管、探測器、復合濾光處理系統、CCD、定位系統、全自動準直器切換系統等光路處理器件均集成在密閉結構中。確保光路系統的穩定性與密閉性,充分保證瞭測試安全。
合理的8種復合濾光片組合和自動切換系統,既可以降低來自原級X射線乾擾的影響,提高被測元素的靈敏度和測試精度,同時還具有輻射自動防護功能,有效保護操作者安全。
特制高效散熱系統,大幅度提供機器的可靠性。全光路射線防護設計,又避免瞭無射線區域的無謂屏蔽與保護,進一步提高瞭散熱效率。全麵提升瞭機器的環境適應性與穩定性。
全光路輻射防護配合經典的迷宮式輻射防護設計,同時采用軟、硬件雙重安全連鎖,確保操作人員人身安全。
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NaU-E700 產品參數(product parameter)
產品名稱 (product name):Nayur X熒光無鹵分析機 (Nayur halogen-free XRF)
型 號(type):NaU-E700
測試對象(test object):粉未、固體、液體(powder, solid, liquid)
測量時間(test time):100-200s
管壓(tube voltage):10KV-50KV
管流(tube flow):50uA-1000uA
環境溫度(environment temperature):15℃-30℃
環境濕度(environment humidity):30%-80%
樣品腔麵積(sample cavity dimension ):400mm×400mm×100mm
外形尺寸(instrument dimension):730mm×440mm×330mm
重量(weight):30Kg
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NaU-E700 產品配置( product configure)
高分辨率電制冷半導體探測器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)
鹵素測試專用配件(halogen test accessory)
光路優化系統(optical optimization system )
內置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)
自動切換準直器和濾光片collimators and filters automatic switching system
全自動定位測試系統(automatic positioning test system)
樣品倉自動開關裝置(fully automatic sample cavity)
三重安全保護模式(triple security protected mode)
NaU-E800能量色散X熒光光譜機,全光路輻射防護;全自動模塊化控制;人性化操作界麵;綜合應用經驗系數法、基本參數法等多種經典分析方法, 可完全滿足RoHS/WEEE相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能,根據企業物料情況量身定做,從而得到最為準確、可靠的分析測試結果,特別適用於多材料的工廠制程控制。
納優系列機器完全符合國際電工委員會IEC62321標準及中國環保標準所規定的技術要求和技術規范。
• 自選式功能組合
用戶根據自己的控制要求,可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件(二選一)
• 全自動配置
全自動化的操作模式、人性化的操作界麵,測試人員通過鼠標即可完成全程操作(原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關、工作曲線的選擇全部實現自動化控制,程序會根據預先設定的測試條件自動進行所有的切換動作);
• 照射區精確控制系統
可精確調整的X光照射區域控制系統,實現瞭對測試區域的準確把握。從根本上保證測試數據與實際檢測區域的完美對應。
• 成熟、經典的分析方法:
憑借國傢“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果,集成近二十五年分析測試應用經驗的經典數學分析模型,為測試者提供可靠、精準、穩定的分析結果。
• 強大的軟件功能
1、分析軟件可根據樣品材質、形狀、大小的不同自動設定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能,大幅提高測量精度;
2、提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為每傢用戶量身定做最佳的有害物質檢測和控制方案;
3、融合瞭一系列先進的光譜處理方法,包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等;
4、國際領先的XRF分析軟件,融合瞭包括經驗系數法、基本參數法(FP法)、理論α系數法等多種經典分析方法,全麵保證測試數據的準確性。
• 開放性工作曲線
用戶可很方便的根據自身材質狀況,針對性的建立風險材料的專用工作曲線,全麵提高工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度,全麵提升來料允收判定依據的可靠性。
• 嚴謹的硬件集成與結構設計
對可能影響整機精確度及穩定性的核心器件,全部采用進口高端原廠器件。
模塊化設計與組件選擇,確保瞭整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。
特別設計的原級、二次濾光系統,既保證瞭對有害元素的激發效率,同時全麵降低瞭作為乾擾因素的背景強度,充分提高峰背比,大幅度降低檢出下限。
• 全光路射線防護系統
X光管、探測器、復合濾光處理系統、CCD、定位系統、全自動準直器切換系統等光路處理器件均集成在密閉結構中。確保光路系統的穩定性與密閉性,充分保證瞭測試安全。
合理的8種復合濾光片組合和自動切換系統,既可以降低來自原級X射線乾擾的影響,提高被測元素的靈敏度和測試精度,同時還具有輻射自動防護功能,有效保護操作者安全。
特制高效散熱系統,大幅度提供機器的可靠性。全光路射線防護設計,又避免瞭無射線區域的無謂屏蔽與保護,進一步提高瞭散熱效率。全麵提升瞭機器的環境適應性與穩定性。
全光路輻射防護配合經典的迷宮式輻射防護設計,同時采用軟、硬件雙重安全連鎖,確保操作人員人身安全。
• 計算機一體化系統
良好的兼容性能:把XRF核心功能與計算機輔助操作、軟件操作進行綜合性地設計,增強瞭XRF硬件、計算機硬件和操作軟件的兼容性能,大大提高測試準確率。
良好的安全性:外殼整體性非常好,內裝整體式防輻射屏蔽系統,是防輻射安全系統、防靜電效應的有效保障。同時,減少瞭各種連線以及電源線,也降低瞭各種線路故障損害的幾率。
整潔且不占空間:一體化系統采用瞭ALL-IN-ONE的設計思路,整潔且不占空間,輕松搬移,外型設計也更具創新性,凸顯用戶的技術創新理念。
故障率低:電子產品元器件的壽命跟工作溫度和環境溫度都有著很大的關系,高溫往往是出現故障的“罪魁禍首”。一體系統的的各種芯片的發熱量很低,周邊元器件的老化速度也就比較慢,從而使用壽命也相應地比較長。
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NaU-E800 產品參數(Product parameter)
產品名稱(Product name):Nayur X熒光無鹵分析一體機
型 號(type):NaU-E800
測試對象(Test object):粉未、固體、液體(powder, solid, liquid)
測量時間Test time:100-200s
管壓tube voltage:10KV-50KV
管流tube flow:50uA-1000uA
環境溫度Environment temperature:15℃-30℃
環境濕度Environment humility:30%-80%
樣品腔麵積sample cavity dimension:400mm×400mm×100mm
外形尺寸Instrument dimension:760mm×440mm×300mm
重量(Weight):35Kg
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NaU-E800 產品配置Product configure
高分辨率電制冷半導體探測器high-resolution electric refrigeration semiconductor detector
光路優化系統(optical optimization system )
內置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)
自動切換準直器和濾光片collimators and filters automatic switching system
全自動定位測試系統 automatic positioning test system
樣品倉自動開關裝置fully automatic sample cavity
三重安全保護模式 triple security protected mode
計算機一體化設計computer integration
東莞市長安忠機機器有限公司
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