技術規格 * 檢測塑膠類樣品和輕質金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限達到5ppm。 機器配置 * 機器核心部件采用美國Amptek公司生產的X-123系統,集成瞭Si-PIN高分辨率半導體X射線探測器、高性能放大和整形電路、數字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA,最大限度地發揮探測器的性能。 |
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技術規格 * 檢測塑膠類樣品和輕質金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限達到5ppm。 機器配置 * 機器核心部件采用美國Amptek公司生產的X-123系統,集成瞭Si-PIN高分辨率半導體X射線探測器、高性能放大和整形電路、數字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA,最大限度地發揮探測器的性能。 |