配備真空腔和高性能真空泵，全自動真空控制系統，使真空測試過程更加智能化
　　鍍層厚度測量精確至0.005微米
　　分析低含量的輕元素時，使用真空泵設備將空氣抽出，使內部在真空狀態下進行對輕元素的分析

　　技術指標
　　※測量元素：從鈉至鈾等 75 種元素
　　※測量對象：粉末、固體、液體
　　※元素含量分析范圍：1ppm-99.99％
　　※RoHS 指令規定的有害元素（限 Cd／Pb／Cr／Hg／Br）檢出限最高達1ppm
　　※測量時間：60-200s
　　※能量分辨率為：140±5eV（德國產SDD探測器）
　　※測量精度：＜0.05％
　　※管壓：5-50kV
　　※管流：50-1000uA
　　※溫度適應范圍：15-30℃
　　※相對濕度：≤70％
　　※機器功率：≤200W
　　※工作電壓：AC 110V／220V
　　※三維自由超大樣品腔設計，樣品腔尺寸Φ320×180mm
　　※一次可同時分析24個元素
　　※重量：75kg

　　配置
　　X光管
　　放大電路
　　高低壓電源
　　雙激光定位系統
　　對被測樣品可以放大100倍
　　清晰觀測檢測部位
　　計算機、噴墨打印機
　　矽針半導體探測器
　　高清晰攝像頭，獨特的光路增強系統
　　專用軟件，操作界麵十分友好

以上單價麵議為準

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