應用實例為
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH公司提供膜層測厚機的探頭,它隻需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚機的功能均可通過與WINDOWS操作系統匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現。 除瞭有測量鐵磁性基體上非鐵磁塗層的厚度(如鋼鐵上的漆層或鉻層)和導電材料上的非導電層塗層的厚度(如非鐵金屬上的漆層),測量范圍到1200 μ m的標準探頭,我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭,雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm,我們同時還提供完整的配件。 |
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訂貨信息 |
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探頭,測量范圍和訂貨號 |
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探頭 |
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