AP系列二維光學測量機以先進的精密光柵測量系統結合計算機輔助誤差修正軟件確保瞭測量的高精度。先進的圖象處理及多樣化的自動尋邊采點功能取代瞭目視瞄準手工記數的傳統測量方式,極大的提高瞭工作效率並從根本上消除瞭人為誤差。7種不同的瞄準方式給用戶提供瞭更多的選擇。編程及自學習編程功能令同一工件(或同類工件)的批量(或重復)測量更為輕松。
AP系列二維光學測量機技術參數
技術描技術參數
l 全機臺采用00級花崗巖石.立柱結構.
l 行程: X軸300mm Y軸200mm Z軸200mm
l 定位精度(重復度): 2um(0.002mm)
l 操作方式: 手動
l 量測分辨率: 0.001mm
l 傳動系統: 德國專利無牙螺桿
l 精密測頭: Renishaw高精度接觸式測頭(可選配)
l CCD影像: 華旗的130萬像數COMS攝像機。
可選配德國的theimagingsource(另加3000元人民幣)
l 鏡頭: 定格定倍0.7X-4.5X,標配
l 示值誤差: ≦3+L/150(X,Y,Z)
l 電腦標配: 海爾CR2.0G/1G內存/160G硬盤/17寸LCD(選配,另加3000元人民幣)
l 機器重量: 500KG
l 軟件系統: AP-DMIS V5全動能版(含三次元,抄數,影像功能但需硬件相配支持
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