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三菱化學機器電阻率計總代理及售後服務商
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三菱化學阻抗率計四探針探頭MCP系列
探頭選項 | ||
類型 | 適用被測試樣品 | 型號 |
ESP | 對於異類樣本 | MCP - TP08P |
PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
QPP | 對於小樣本 | MCP - TPQPP |
TFP | 有關矽晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
選購品 | |
![]() | ![]() 不均一樣品用 Pin間 5mm,Pin尖 Ø 2×4支,壓力 240g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm |
![]() | ![]() 小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 Ø 10-20× L112mm |
![]() | ![]() 微小樣品用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 Ø 10-20× L112mm |
![]() | ![]() Silicone wafer用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,壓力 250g/支 |
![]() | ![]() 大樣品用 Pin間 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支 |
![]() | ![]() Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,壓力 50g/支 |
![]() | ![]() 標準樣式 Pin間 10mm,Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支 |
![]() | ![]() 大樣品用 Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支 |
![]() | ![]() PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之) |
![]() | ![]() TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之) |
新手教學


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