類型	光學儀器	品牌	CEWEI
型號	6JA	新舊程度	1成新
設備所在地	中國 上海	設備生產產地	中國 上海
產品數量	5

一、6JA干涉顯微鏡用途：6JA干涉顯微鏡是用來測量精密加工零件表面（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器。也可以用來測量零件表面刻線、刻槽鍍層（透明）等深度。儀器配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面。同時還能將儀器安置在工件上，對大型工件表面進行測量。儀器測量表面不平深度範圍為1-0.03微米，用測微目鏡和照明方法來評定▽10-▽14光潔度的表面。本儀器適用於廠礦企業計量室，精密加工車間，也適用於高等院校，科學研究單位。二、6JA干涉顯微鏡主要技術參數：• 目鏡：測微目鏡12.5X，測微鼓輪分劃值0.01mm• 儀器放大倍數：500X• 儀器視場：0.25 mm• 物鏡：40X，數值孔徑0.65mm，工作距離0.5mm• 標準鏡：高反射率≈50%，低反射率≈4%• 工作台：升降範圍5mm，XY方向移動範圍≈10mm，360度旋轉• 綠色干涉濾色片：波長λ≈5300A，半寬度▽≈100A• 測量表面光潔度範圍：▽10-▽14（相當於測量表面不 平深度範圍為0.1um-0.03um）